[发明专利]一种LED灯具的老化和温度试验方法

说明书

技术领域

本发明涉及半导体制造技术领域，尤其是一种LED灯具的老化和温度试验方法。

背景技术

LED(发光二极管)由于其寿命长、可靠耐用、体积小、能耗低等优点，已成为21世纪具有竞争力的新型固体光源。

目前，LED元件的老化技术已有了，业界普遍采用两种老化方法来进行老化实验：

第一种是常规老化：将大功率LED以额定电流点1000小时，测量光衰与色坐标变化，光衰的大小决定产品质量的好坏。

第二种是强迫性老化：将大功率LED以2倍的额定电流进行破坏性实验，通常业界是以96小时为老化标准，同样光衰和色坐标变化越小表明产品的质量越好。

现在的LED老化方法不考虑许多特殊LED在特殊场所下的环境要求，如工作温度的要求，且现有的方法是将老化与高低温环境试验分开进行，影响了产品加工生产进度，而灯具整体的老化还没有方法。

发明内容

为了解决上述技术难题，本发明提供了一种LED灯具的老化和温度试验方法，可用于LED灯具在高低温老化条件下进行老化。

一种LED灯具的老化和温度试验方法，将LED灯具老化与高低温环境测试同时进行，整个过程分为：

(a)将大功率LED灯具在高温a₁摄氏度、电压U₁伏下工作t₁小时；

(b)将大功率LED灯具在常温a₂摄氏度、电压U₂伏下工作t₂小时；

(c)将大功率LED灯具在低温a₃摄氏度、电压U₃伏下工作t₃小时；

(d)测试LED灯具的光衰及色坐标，将光衰或色坐标变化较大的LED灯具剔除；

过程(a)-(d)总耗时小于96小时。

对于汽车和挂车外部照明和信号装置的灯具，a₁＝52，t₁＝24，a₂＝22.5±2.5，t₂＝70，a₃＝-43，t₃＝1，U₂为灯具额定电压，U₁＝110％U₂，U₃＝90％U₂。

对于民用机场灯具，a₁＝55，t₁＝24，a₂＝22.5±2.5，t₂＝70，a₃＝-40，t₃＝1，U₂为灯具额定电压，U₁＝110％U₂，U₃＝90％U₂。

对于LED路灯和草坪灯的耐温试验条件由生产厂家和用户共同商定，以不超过当地五十年一遇的最高、最低气温为依据，设定U₂为灯具额定电压，U₁＝110％U₂，U₃＝90％U₂。

如果只对灯具中的LED进行老化和温度试验，t₁＝1，a₂＝22.5±2.5，t₂＝90，t₃＝1，高温、低温的温度值和灯具需要耐受的高温、低温的温度值一致，U₂是使工作电流为额定电流的2倍的电压，U₁为额定电压，U₃＝90％U₂，在高温工作时，LED保持良好的散热。

本发明的有益效果是：充分考虑了工作温度对LED的影响，将老化与高低温试验同时进行，减少了时间，加快了生产速度。

为了对本发明的进一步了解，将通过结合下述附图对本发明的实施进行说明。

附图说明

图1是本发明一种LED灯具的老化和温度试验方法的温度—时间坐标。

图2是本发明一种LED灯具的老化和温度试验方法的电压—时间坐标。