[发明专利]部件检查装置及部件安装装置无效
申请号: | 201010279717.6 | 申请日: | 2010-09-09 |
公开(公告)号: | CN102026536A | 公开(公告)日: | 2011-04-20 |
发明(设计)人: | 小仓丰;森田玲香 | 申请(专利权)人: | JUKI株式会社 |
主分类号: | H05K13/04 | 分类号: | H05K13/04;H05K13/08 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 部件 检查 装置 安装 | ||
技术领域
本发明涉及一种部件检查装置及部件安装装置。
背景技术
向基板安装电子部件的电子部件安装装置,利用吸附嘴吸附电子部件,使吸附嘴移动并下降至规定的安装位置,向基板安装所吸附的电子部件。
当前,在电子部件安装装置中,在向基板安装电子部件前,由部件识别照相机对电子部件进行拍摄,检测电子部件相对于吸附嘴的位置偏移量,然后,将电子部件移动至用于对电极状态是否正常进行检查的电极检查装置处,利用电极检查装置对电子部件的电极浮动等不良进行检查,如果电子部件不存在不良,则向基板进行安装。
另外,例如如专利文献1所示,已知一种电子部件安装装置,其在部件识别照相机的附近配置电极检查装置,电极检查装置朝向位于部件识别照相机上方的电子部件的电极,从斜下方照射平行光,不使部件移动,在相同的位置上进行电子部件的位置偏移和电极的检查。
专利文献1:日本专利第3378077号公报
发明内容
但是,在上述专利文献1所记载的电子部件安装装置中,在部件识别照相机之外需要另外设置用于在向基板安装电子部件前进行电极检查的电极检查装置,并从斜下方照射平行光线等用于另外实施电极检查,从而存在电极检查装置花费成本的问题。
另外,由于对于电子部件相对于吸附嘴的位置偏移和电子部件的电极检查,分别使用不同的识别或检查装置,所以取得不同的数据。其结果,在检查电极时存在下述问题,即,识别位置偏移时的电子部件的特征点(例如,引线的前端位置等)位置检测、和检查电极时的电子部件的特征点位置检测必须分别进行,电子部件的检查作业花费时间,成为安装作业高速化的障碍。
本发明的目的在于,提供一种部件检查装置及部件安装装置,其可以缩短对向基板等安装对象物安装的电子部件进行检查所花费的时间,可以实现部件安装作业的高速化。
为了解决上述课题,技术方案1记载的发明是一种部件检查装置,其具有:保持部,其保持部件;以及拍摄部,其对由所述保持部保持的部件进行拍摄,根据由所述拍摄部拍摄的拍摄图像,对所述部件相对于所述保持部的中心的位置偏移进行检查,其特征在于,所述拍摄部拍摄从该拍摄部至所述部件之间的距离不同的多个图像,该部件检查装置具有:像素数据确定单元,其从由所述拍摄部拍摄的多个拍摄图像中,确定相同位置的像素中的对准焦点的像素数据;距离数据确定单元,其针对每个所述图像数据,确定在拍摄由所述像素数据确定单元确定的各像素数据时的所述拍摄部和所述部件的距离数据;距离计算单元,其基于所述距离数据,计算所述部件的规定部位与假想直线或假想平面之间的距离;存储单元,其存储与所述假想直线或所述假想平面的所述距离的容许值,以用于确定所述部件是否满足规定的基准;以及判定单元,其判定所述距离是否超过存储在所述存储单元中的所述容许值。
技术方案2记载的发明的特征在于,在技术方案1记载的部件检查装置中,具有:移动部,其使所述保持部和所述拍摄部中的至少一个以相对于另一个接近/远离的方式移动;以及拍摄控制单元,其在通过所述移动部使所述保持部或所述拍摄部以规定距离移动时,使所述拍摄部对所述部件和所述保持部进行拍摄。
技术方案3记载的发明的特征在于,在技术方案2记载的部件检查装置中,将所述拍摄部固定,所述移动部使所述保持部在沿所述拍摄部的光学系统光轴方向的方向上移动。
技术方案4记载的发明是一种部件安装装置,其特征在于,具有:权利要求1至3中任一项所述的部件检查装置;输送部,其使所述保持部移动,将所述部件向安装位置输送;以及输送控制单元,其在通过所述判定单元判断为,根据所述距离数据求出的所述部件的多个规定部位与假想直线或假想平面之间的距离中,至少一个超过存储于所述存储单元中的容许值的情况下,使所述输送部将所述部件排出而不向安装位置输送。
技术方案5记载的发明的特征在于,在技术方案4记载的部件安装装置中,具有位置偏移校正单元,其对所述拍摄部拍摄从该拍摄部至所述部件之间的距离不同的多个图像而得到的图像数据,利用中心位置偏移校正表,对图像数据进行校正,在该中心位置偏移校正表中,预先计算出与从所述拍摄部至所述部件之间的距离对应的图像的中心位置偏移量。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于JUKI株式会社,未经JUKI株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010279717.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。