[发明专利]光信号质量监控装置无效
申请号: | 201010280516.8 | 申请日: | 2010-09-10 |
公开(公告)号: | CN102035598A | 公开(公告)日: | 2011-04-27 |
发明(设计)人: | 贺川昌俊 | 申请(专利权)人: | 冲电气工业株式会社 |
主分类号: | H04B10/08 | 分类号: | H04B10/08;H04B10/12 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王轶;李伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信号 质量 监控 装置 | ||
1.一种光信号质量监控装置,其特征在于,具有:
分路单元,其将用二进制强度调制的监控对象的光信号分路为3路以上;
平均强度检测单元,其根据任意一个分路光信号检测出平均强度;
两个以上的信号强度检测单元,即,第一信号强度检测单元和延迟时间不同的一个以上的第二信号强度检测单元,其中上述第一信号强度检测单元根据任意一个分路光信号检测出与比特率相当的频率的信号强度,上述第二信号强度检测单元在使任意一个分路光信号和使该分路光信号延迟规定的延迟时间的光信号干涉之后,检测出与其干涉信号中的比特率相当的频率的信号强度;
特性决定单元,其在得到以检测出的平均强度为基准的被检测出的各信号强度的相对强度后,决定监控对象的光信号的波长色散以及光SNR、或者波长色散以及光SNR的变化趋势。
2.根据权利要求1所述的光信号质量监控装置,其特征在于,
具有上述第一信号强度检测单元和上述第二信号强度检测单元各一个,上述第二信号强度检测单元的延迟时间被选定在1/2比特期间。
3.根据权利要求1所述的光信号质量监控装置,其特征在于,
不具备上述第一信号强度检测单元而具备两个上述第二信号强度检测单元,一个上述第二信号强度检测单元的延迟时间被选定在1比特期间,另一个上述第二信号强度检测单元的延迟时间被选定在1/2比特期间。
4.根据权利要求3所述的光信号质量监控装置,其特征在于,
上述各第二信号强度检测单元分别用向与比特率相当的频率施加了偏频的频率的信号来调制干涉信号,并转换为比干涉信号低频的信号,检测该低频信号的强度,作为相当于干涉信号中的比特率的频率的信号强度。
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