[发明专利]基于三点微平面式法向检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及测量领域中的一种法向检测技术，具体是一种基于三点微平面法的、采用非接触式测量的曲面法向测量方法的设计及相关参数标定方法。

背景技术

在工业生产中，测量技术发挥着举足轻重的作用，随着技术的进步，特别是激光技术、传感器技术的发展，测量手段更加多样化和先进化，同时生产过程中要求的被测对象也越来越多，很多时候需要测量某一曲面上的法向量，如在飞机制造过程中的钻铆技术，就要求钻铆机的加工轴线和飞机蒙皮上待加工点处的法矢量重合；目前国内关于这方面的技术与文献比较少，因此提出曲面法向测量，并设计一种测量方法及相关参数标定方法，在工业生产中的测量领域具有重要的价值意义。

发明内容

本发明的目的在于提供一种曲面法向测量及相关参数的标定方法。本发明利用了激光传感器技术及数据采集技术并基于三点微平面法的设计思想，可以准确、快速、方便地进行曲面法向的测量。

本发明通过以下技术方案实现，实施步骤如下：

1)建立模型：将3个激光位移传感器环形均布于三坐标测量机的头部，传感器的空间姿态能使激光成锥形射在曲面上，根据精度要求调整锥度来控制3个激光点所形成的微平面大小；

2)建立空间坐标系：首先，用三坐标测量机建立一个世界坐标系1；然后选用三坐标测量机末端关节坐标系作为中间转换坐标系2；另外在每个激光位移传感器上建立一个以激光线射出方向为z轴负向、以激光位移传感器工作参考点为坐标原点的局部坐标系3；

3)采集数据：利用数据采集卡和LabVIEW软件采集激光位移传感器电压信号并转换为位移值L_i；

4)计算激光点的坐标：利用激光位移传感器测得的位移即可知道激光点在局部坐标系3下的坐标(0，0，w_i)，w_i＝-L_i，根据欧拉坐标转换公式，分别求得3个激光点在坐标系1下的坐标，坐标转换公式如下：

Pi=R0*Ri*00wi1]]>i＝1，2，3

Ri=Rz1*Rx2+Ti]]>