[发明专利]一种交流采样处理方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及电力领域，尤其涉及一种交流采样处理方法及装置。

背景技术

目前，已有的设备在进行交流采样处理时，一般将各个电量(如交流电压、交流电流)的采样数值进行快速傅里叶变换(Fast Fourier Transform，FFT)，获得各个交流电量。其中，将各个电量(如交流电压、交流电流)的采样数值进行FFT，需要占用大量的微控制单元(Micro Control Unit，MCU)的时间。

同时，目前的交流采样处理触发是由MCU主程序通过定时器来触发的，即当定时器的计时时间到达预设值时，MCU主程序触发交流采样处理。但是，在定时器开始计时至计时时间到达预设值期间，MCU主程序将暂停工作，降低了MCU工作效率。

发明内容

本发明实施例中提供了一种交流采样处理方法及装置，可以减少占用MCU的时间，提高MCU工作效率。

一种交流采样处理方法，包括：

中断程序触发用于唤醒线程的唤醒信号；

所述线程被所述唤醒信号唤醒，并从缓冲区中读取预先存储的各个电量的采样数值；所述各个电量的采样值至少包括交流电压的采样值和交流电流的采样值；

将所述各个电量的采样数值进行离散傅里叶变换(DFT)，获得各个交流电量。

其中，所述中断程序触发用于唤醒线程的唤醒信号包括：

中断程序判断采样定时器的计时时间是否到达预设值，若是，则对各个电量进行采样并存储所述各个电量的采样数值；

判断采样次数是否等于64次，若是，则复位所述采样次数并启动用于唤醒线程的唤醒信号。

可选地，所述方法还包括：

在获得各个交流电量之后，复位所述采样定时器并启动所述采样定时器重新计时。

可选地，所述方法还包括：

在获得各个交流电量之后，将所述各个交流电量输出液晶显示器LCD显示。

一种交流采样处理装置，其特征在于，包括：

中断程序模块，用于触发用于唤醒线程的唤醒信号；

线程模块，用于被所述唤醒信号唤醒，并从缓冲区中读取预先存储的各个电量的采样数值；所述各个电量的采样值至少包括交流电压的采样值和交流电流的采样值；

计算模块，用于将所述各个电量的采样数值进行离散傅里叶变换DFT，获得各个交流电量。

其中，所述中断程序模块包括：

第一判断子模块，用于判断采样定时器的计时时间是否到达预设值；

第一采样子模块，用于在所述第一判断子模块的判断结果为是时，对各个电量进行采样并存储所述各个电量的采样数值；

第二判断子模块，用于判断所述第一采样子模块的采样次数是否等于64次；

第一控制子模块，用于在所述第二判断子模块的判断结果为是时，复位所述第一采样子模块的采样次数并启动用于唤醒线程的唤醒信号。

可选地，所述装置还包括：

第二控制子模块，用于在所述计算模块获得各个交流电量之后，复位所述采样定时器并启动所述采样定时器重新计时。

可选地，所述装置还包括：

液晶显示器LCD，用于在所述计算模块获得各个交流电量之后，显示所述各个交流电量。

与现有的技术相比，本发明实施例具有以下有益效果：

本发明实施例中，由中断程序触发用于唤醒线程的唤醒信号；线程被唤醒信号唤醒，并从缓冲区中读取预先存储的各个电量的采样数值；将各个电量的采样数值进行离散傅里叶变换(DFT)，获得各个交流电量。即本发明实施例将触发交流采样处理的任务从MCU主程序中分离出来，减少MCU主程序工作，提高MCU工作效率；同时，本发明实施例中将各个电量的采样数值进行离散傅里叶变换DFT，获得各个交流电量，可以减少占用MCU的时间。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例中提供的一种交流采样处理方法的流程图；

图2为本发明实施例中提供的一种中断程序触发用于唤醒线程的唤醒信号的方法流程图；

图3为本发明实施例中提供的一种交流采样处理装置的结构图；

图4为本发明实施例中提供的另一种交流采样处理装置的结构图。

具体实施方式