[发明专利]有机EL用掩模清洗方法、有机EL用掩模清洗装置及有机EL显示器的制造装置无效

专利信息
申请号: 201010283620.2 申请日: 2010-09-10
公开(公告)号: CN102034937A 公开(公告)日: 2011-04-27
发明(设计)人: 弓场贤治;片桐贤司;井崎良;片冈文雄 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: H01L51/56 分类号: H01L51/56
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 黄永杰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 有机 el 用掩模 清洗 方法 装置 显示器 制造
【权利要求书】:

1.一种有机EL用掩模清洗方法,其在附着了有机材料的有机EL用掩模的表面扫描激光而除去所述有机材料,其特征在于,

照射如下的激光:在透过所述有机材料地使所述激光照射到所述有机EL用掩模时,将所述有机材料维持在固态,且所述有机EL用掩模在照射后不变形的激光。

2.如权利要求1所述的有机EL用掩模清洗方法,其特征在于,

通过照射所述激光,使所述有机材料和所述有机EL用掩模具有由温度差引起的热膨胀差,由此,对层间作用剥离力,进行所述有机材料的除去。

3.如权利要求2所述的有机EL用掩模清洗方法,其特征在于,

根据所述有机材料和所述有机EL用掩模,所述激光的波长λ从“400nm≤λ≤1200nm”中选择将所述有机材料维持在固态、且所述有机EL用掩模在热膨胀后能够复原的波长。

4.如权利要求3所述的有机EL用掩模清洗方法,其特征在于,将所述激光设定为脉冲激光。

5.如权利要求4所述的有机EL用掩模清洗方法,其特征在于,

控制所述脉冲激光的一次照射时间,以将所述有机材料维持在固态、且所述有机EL用掩模在热膨胀后能够复原。

6.如权利要求1~5中任一项所述的有机EL用掩模清洗方法,其特征在于,

控制了向所述有机EL用掩模照射所述激光时形成的光点的光点直径。

7.一种有机EL用掩模清洗装置,其在附着了有机材料的有机EL用掩模的表面扫描激光而除去所述有机材料,其特征在于,

具备激光光源,该激光光源振荡如下的激光:在透过所述有机材料地使所述激光照射到所述有机EL用掩模时,将所述有机材料维持在固态,且所述有机EL用掩模在照射后不变形的激光。

8.如权利要求7所述的有机EL用掩模清洗装置,其特征在于,

所述激光光源振荡激光,所述激光通过使所述有机材料和所述有机EL用掩模具有由温度差引起的热膨胀差,对层间作用剥离力,进行所述有机材料的除去。

9.如权利要求8所述的有机EL用掩模清洗装置,其特征在于,所述激光光源,根据所述有机材料和所述有机EL用掩模,振荡如下的波长:所述激光的波长λ从“400nm≤λ≤1200nm”中选出的、将所述有机材料维持在固态,且所述有机EL用掩模在热膨胀后能够复原的波长。

10.如权利要求9所述的有机EL用掩模清洗装置,其特征在于,

具备振荡的波长各不相同的多个所述激光光源,

根据所述有机材料和所述有机EL用掩模,从所述激光光源中使用具有将所述有机材料维持在固态、且所述有机EL用掩模在热膨胀后能够复原的波长的激光光源,振荡所述激光。

11.如权利要求9所述的有机EL用掩模清洗装置,其特征在于,

所述激光光源振荡脉冲激光。

12.如权利要求11所述的有机EL用掩模清洗装置,其特征在于,

所述激光光源控制所述脉冲激光的一次照射时间,以将所述有机材料维持在固态,且所述有机EL用掩模在热膨胀后能够复原。

13.如权利要求12所述的有机EL用掩模清洗装置,其特征在于,具备:

使所述激光聚光的聚光单元、

使所述激光的焦点位置变化的焦点位置变化单元。

14.一种有机EL显示器的制造装置,其特征在于,具备权利要求7~13中任一项所述的有机EL用掩模清洗装置。

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