[发明专利]有机EL用掩模清洗方法、有机EL用掩模清洗装置及有机EL显示器的制造装置无效
申请号: | 201010283620.2 | 申请日: | 2010-09-10 |
公开(公告)号: | CN102034937A | 公开(公告)日: | 2011-04-27 |
发明(设计)人: | 弓场贤治;片桐贤司;井崎良;片冈文雄 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | H01L51/56 | 分类号: | H01L51/56 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 黄永杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 有机 el 用掩模 清洗 方法 装置 显示器 制造 | ||
1.一种有机EL用掩模清洗方法,其在附着了有机材料的有机EL用掩模的表面扫描激光而除去所述有机材料,其特征在于,
照射如下的激光:在透过所述有机材料地使所述激光照射到所述有机EL用掩模时,将所述有机材料维持在固态,且所述有机EL用掩模在照射后不变形的激光。
2.如权利要求1所述的有机EL用掩模清洗方法,其特征在于,
通过照射所述激光,使所述有机材料和所述有机EL用掩模具有由温度差引起的热膨胀差,由此,对层间作用剥离力,进行所述有机材料的除去。
3.如权利要求2所述的有机EL用掩模清洗方法,其特征在于,
根据所述有机材料和所述有机EL用掩模,所述激光的波长λ从“400nm≤λ≤1200nm”中选择将所述有机材料维持在固态、且所述有机EL用掩模在热膨胀后能够复原的波长。
4.如权利要求3所述的有机EL用掩模清洗方法,其特征在于,将所述激光设定为脉冲激光。
5.如权利要求4所述的有机EL用掩模清洗方法,其特征在于,
控制所述脉冲激光的一次照射时间,以将所述有机材料维持在固态、且所述有机EL用掩模在热膨胀后能够复原。
6.如权利要求1~5中任一项所述的有机EL用掩模清洗方法,其特征在于,
控制了向所述有机EL用掩模照射所述激光时形成的光点的光点直径。
7.一种有机EL用掩模清洗装置,其在附着了有机材料的有机EL用掩模的表面扫描激光而除去所述有机材料,其特征在于,
具备激光光源,该激光光源振荡如下的激光:在透过所述有机材料地使所述激光照射到所述有机EL用掩模时,将所述有机材料维持在固态,且所述有机EL用掩模在照射后不变形的激光。
8.如权利要求7所述的有机EL用掩模清洗装置,其特征在于,
所述激光光源振荡激光,所述激光通过使所述有机材料和所述有机EL用掩模具有由温度差引起的热膨胀差,对层间作用剥离力,进行所述有机材料的除去。
9.如权利要求8所述的有机EL用掩模清洗装置,其特征在于,所述激光光源,根据所述有机材料和所述有机EL用掩模,振荡如下的波长:所述激光的波长λ从“400nm≤λ≤1200nm”中选出的、将所述有机材料维持在固态,且所述有机EL用掩模在热膨胀后能够复原的波长。
10.如权利要求9所述的有机EL用掩模清洗装置,其特征在于,
具备振荡的波长各不相同的多个所述激光光源,
根据所述有机材料和所述有机EL用掩模,从所述激光光源中使用具有将所述有机材料维持在固态、且所述有机EL用掩模在热膨胀后能够复原的波长的激光光源,振荡所述激光。
11.如权利要求9所述的有机EL用掩模清洗装置,其特征在于,
所述激光光源振荡脉冲激光。
12.如权利要求11所述的有机EL用掩模清洗装置,其特征在于,
所述激光光源控制所述脉冲激光的一次照射时间,以将所述有机材料维持在固态,且所述有机EL用掩模在热膨胀后能够复原。
13.如权利要求12所述的有机EL用掩模清洗装置,其特征在于,具备:
使所述激光聚光的聚光单元、
使所述激光的焦点位置变化的焦点位置变化单元。
14.一种有机EL显示器的制造装置,其特征在于,具备权利要求7~13中任一项所述的有机EL用掩模清洗装置。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择