[发明专利]直流保护测试装置以及直流保护装置的测试方法

权利要求书

1.一种直流保护测试装置，其特征在于，包括：与直流保护装置相连接的IO装置，与上位PC机、所述直流保护装置相连接的主板装置，以及连接于所述主板装置与所述IO装置之间的FPGA，所述IO装置接收所述直流保护装置的激光能量信号并对接收的激光能量信号进行分离，分离出时钟信号和低电压信号后向所述FPGA发送，所述FPGA将默认信息数据与所述低电压信号根据预设编码格式叠加后通过所述IO装置发送给所述直流保护装置，形成闭环回路，所述主板装置接收所述上位PC机发送的测试数据，并将该测试数据通过所述FPGA发送给所述IO装置，通过所述IO装置发送给所述直流保护装置。

2.根据权利要求1所述的直流保护测试装置，其特征在于，所述主板包括：与所述上位PC机连接的ARM处理器、以及连接于所述ARM处理器与所述FPGA之间的数字信号处理器DSP，所述ARM处理器包括用于与所述上位PC机连接的以太网接口。

3.根据权利要求1或2所述的直流保护测试装置，其特征在于，所述直流保护装置为SIMADYND系统的直流保护装置。

4.根据权利要求1或2所述的直流保护测试装置，其特征在于，所述IO单元包括光接收器和光发送器，所述光接收器与直流保护装置的LM模块相连接，所述光发送器与所述直流保护装置的IO模块相连接。

5.根据权利要求1或2所述的直流保护测试装置，其特征在于，所述IO装置通过光纤与所述直流保护装置相连接，所述光纤的芯径为200/230μm。

6.一种直流保护装置的测试方法，其特征在于，包括步骤：

接收直流保护装置发送的激光能量信号，并在对该激光能量信号进行分离，分离出低电压信号和时钟信号，并将默认信息数据与所述低电压信号根据预设编码格式叠加后发送给所述直流保护装置，形成闭环回路；

接收PC机下发的初始测试数据，并将该初始测试数据发送给所述直流保护装置。

7.根据权利要求6所述的直流保护装置的测试方法，其特征在于，还包括步骤：

接收PC机下发的更新后的测试数据，并将该更新后的测试数据发送给所述直流保护装置。

8.根据权利要求6或7所述的直流保护装置的测试方法，其特征在于，所述更新后的测试数据为所述初始测试数据加上该初始测试数据对应的预设步长后所得到的值。

9.根据权利要求6或7所述的直流保护装置的测试方法，其特征在于：

在分离所述激光能量信号之前，还包括步骤：对接收的激光能量信号进行第一处理操作，所述第一处理操作包括光电转换操作；

在将所述叠加后的信息或者测试数据发送给所述直流保护装置之前，还进行第二处理操作，所述第二处理操作包括电光转换操作。

10.根据权利要求6至9任意一项所述的直流保护装置的测试方法，其特征在于，所述直流保护装置为SIMADYND系统的直流保护装置。