[发明专利]触控点检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种触控检测技术，尤其涉及一种用于电容式触控面板的触控点检测方法。

背景技术

于各类消费性电子产品中，触控面板已被广泛使用作为输入装置。使用者透过手指或触控笔等装置在触控面板上的点触、滑动、书写等动作，可对触控面板上所显示的物件或选单直接下指令及操作，以提供更方便的人机操作界面。以不同感测技术来区分，触控面板可分为电容式、电阻式、光学式等。请参考图1，图1为说明现有技术的电容式触控面板100的示意图。电容式触控面板100包括有感测电容C₁₁～C_MN、电极X₁～X_M与Y₁～Y_N，其中感测电容C₁₁～C_MN与电极X₁～X_M以及电极Y₁～Y_N之间的耦接关系如图1所示，故不再赘述。以下将说明在现有技术中，用于电容式触控面板100的触控点检测方法的工作原理。

在电容式触控面板100中，当透过电极Y₁～Y_N扫描各行感测电容时，可透过电极X₁～X_M读取感测电容C₁₁～C_MN所产生的感测信号S_{SEN1_11}～S_{SEN1_MN}。当透过电极X₁～X_M扫描每列感测电容时，可透过电极Y₁～Y_N读取感测电容C₁₁～C_MN所产生的感测信号S_{SEN2_11}～S_{SEN2_MN}。此外，借由平均感测电容C₁₁～C_MN于电容式触控面板100尚未被触碰时所产生的感测信号S_{SEN1_11}～S_{SEN1_MN}，可产生一基准值BASE来表示一感测电容于未被触碰时所产生的感测信号。如此，于检测触控点时，可将感测信号S_{SEN1_11}～S_{SEN1_MN}与基准值BASE相减，以得到可反映出感测信号S_{SEN1_11}～S_{SEN1_MN}的变化的差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}。举例而言，第A个感测电容的差异信号S_{DIFF1_A}可由下式计算：

S_{DIFF1_A}＝abs(S_{SEN1_A}-BASE)...(1)；

其中abs表示取绝对值，S_{SEN1_A}表示第A个感测电容所产生的感测信号，BASE表示基准值。同理，依据式(1)将感测信号S_{SEN2_11}～S_{SEN2_MN}与基准值BASE相减，可得到可反映出感测信号S_{SEN2_11}～S_{SEN2_MN}的变化的差异信号S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}。此时，借由检测差异信号S_{DIFF1_11}～S_{DIFF1_MN}与差异信号S_{DIFF2_11}～S_{DIFF2_MN}，可判断感测电容所产生的感测信号的变化的程度，并据以判断触控点的位置。更明确地说，现有技术的触控点检测方法将对应于感测电容C_A的差异信号S_{DIFF1_A}以及S_{DIFF2_A}与一触控阈值TH_TOUCH比较。当差异信号S_{DIFF1_A}与S_{DIFF2_A}皆大于触控阈值TH_TOUCH时，现有技术的触控点检测方法判断感测电容C_A为一触控点。