[发明专利]电子束和酸洗提纯多晶硅的方法有效
申请号: | 201010288512.4 | 申请日: | 2010-09-13 |
公开(公告)号: | CN101935041A | 公开(公告)日: | 2011-01-05 |
发明(设计)人: | 战丽姝;董伟;谭毅;李国斌 | 申请(专利权)人: | 大连隆田科技有限公司 |
主分类号: | C01B33/037 | 分类号: | C01B33/037 |
代理公司: | 大连东方专利代理有限责任公司 21212 | 代理人: | 陈红燕 |
地址: | 116025 辽宁省大*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子束 酸洗 提纯 多晶 方法 | ||
1.一种电子束和酸洗提纯多晶硅的方法,包括如下步骤:
(1)电子束熔炼硅料去除硅中挥发性杂质磷;
(2)除磷后的液态硅快速凝固形成硅锭,所述硅锭中形成细小的晶粒,同时金属杂质在所述晶粒的晶界处富集;
(3)将所述硅锭沿晶界破碎,得到硅粉;
(4)酸洗去除金属杂质,得到磷和金属杂质含量较低的硅锭,即磷含量低于0.00004%,金属杂质总含量低于0.0005%的硅粉。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:
所述步骤(1)中,根据硅料质量及其中磷的含量,电子束熔炼的真空度为8.0×10-3Pa~1.2×10-2Pa,电子束束流采用500-700mA,使硅料全部熔化,并保持束流熔炼20-40分钟;
所述步骤(2)中,通过关闭电子束流,束流快速降低为0mA,硅熔液将快速凝固,形成很多细小的晶粒;
所述步骤(3)中,所述硅粉的粒度为50-150μm;
所述步骤(4)中,所述酸洗包括先后使用HCl酸和HF酸分别清洗4-7h,再用去离子水清洗至溶液呈中性。
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