[发明专利]具有误码检测的测试和测量仪器

说明书

相关申请的交叉引用

根据35U.S.C.§119(e)，本申请主张享有2009年8月12日递交的序号为61/233,430的美国临时申请的优先权，将其全文引入这里作为参考。

技术领域

本发明涉及一种测试和测量仪器，尤其涉及一种具有误码检测的测试和测量仪器。

背景技术

测试和测量仪器，例如示波器，逻辑分析仪等，可以用于分析数字化数据。例如，示波器可以显示波形，眼图等。逻辑分析仪可以显示数字化数据。但是，数字化数据会包含错误，其会与其他没有错误的数字化数据一起显示。

发明内容

实施方式包括测试和测量仪器，其包括输入端，其被配置成接收信号和输出数字化数据；存储器，其被配置成存储包含参考序列的参考数字化数据；模式检测器，其被配置成检测数字化数据中的参考序列并生成同步信号作为回应；存储器控制器，其被配置成响应所述同步信号使得存储器输出参考数字化数据；以及比较器，其被配置成将存储器输出的参考数字化数据与数字化数据进行比较。

另一实施方式包括一种方法，该方法包括以下步骤：接收来自信号的数字化数据；匹配数字化数据的序列与参考数字化数据的序列；响应所述匹配生成同步信号；响应所述同步信号输出参考数字化数据；比较输出的参考数字化数据与数字化数据。

附图说明

图1为根据实施方式的测试和测量仪器的误码检测器的框图。

图2为图1的比较器的例子的框图。

图3为根据实施方式的输入到比较器的数据的例子的框图。

图4为图1的错误检测器的例子的框图。

图5为根据实施方式的测试和测量仪器的框图。

具体实施方式

各实施方式包括测试和测量仪器及技术，其中数字化数据中的误码可以被检测。如同下文将要进一步详细描述的，在一个实施方式中，检测到的错误可以被分析，用于数据采集等。

图1为根据实施方式的测试和测量仪器的误码检测器的框图。该测试和测量仪器10可以是任何种类的仪器。例如测试和测量仪器10可以是示波器，逻辑分析仪，网络分析仪等。在这一实施方式中，测试和测量仪器10包括输入端12，耦接到输入端12的模式检测器16，存储器18，耦接到输入端12的比较器24，以及耦接到比较器24的错误检测器26。

输入端12被配置成接收信号和输出数字化数据14。在实施方式中，该信号可以是模拟信号，用以表示数字化数据14。例如，输入端12可以包括时钟和数据恢复电路(CDR)。该CDR可以接收编码于信号中的数字化数据14。在另一个实施方式中，输入端12可以包括模数转换器，其被配置成将信号转换为信号的数字化表示。附加电路可以将数字化信号转化为数字化数据14。也就是说，任何能够恢复编码于信号中的数字化数据14的电路都可以用作输入端12。

数字化数据14可以以多种形式表示。例如，数字化数据14可以是串行数据或并行数据。数字化数据14可以包含与数据相关的其他的信息，信号等。例如，如上所述，输入端12可以是CDR。因此，数字化数据14可以包括恢复时钟。在另一个实施方式中，数字化数据14可以包含帧信息，例如帧错误，非法代码信息，例如非法8B/10B代码序列，同步损失信息等。任何这种信息都可以包含在数字化数据14中。在另一个例子中，数字化数据14可以是来自CDR的重新定时的解多工数据(de-multiplexed data)。

存储器18可以是任何种类的存储器。例如，存储器18可以是动态存储器，静态存储器，只读存储器，随机存取存储器等。存储器18可以被配置成存储包括参考序列的参考数字化数据。例如，该参考数字化数据可以是伪随机位序列。该参考序列可以是适合伪随机模式的长度的特殊的一系列1或者一系列零。在另一个例子中，该参考数字化数据可以是使用者定义的模式、工业标准模式等。该参考序列可以是在整个重复模式中唯一的任何数据序列。因此，如同下文将要描述的，参考序列可以用于对齐(align)错误检测。

存储器18可以包括存储器控制器19。该存储器控制器19可以被配置成响应同步信号20引起存储器18输出参考数字化数据22。在一个实施方式中，存储器控制器19可以与存储器18集成。但是，在另一个实施方式中，存储器控制器19可以与存储器18分离。例如，存储器控制器19可以是测试和测量仪器10的控制系统的一部分。