[发明专利]具有低的热漂移的微机电z轴探测结构有效
申请号: | 201010288878.1 | 申请日: | 2010-08-02 |
公开(公告)号: | CN101987718A | 公开(公告)日: | 2011-03-23 |
发明(设计)人: | G·卡扎尼加;L·科罗纳托;B·希莫尼 | 申请(专利权)人: | 意法半导体股份有限公司 |
主分类号: | B81B3/00 | 分类号: | B81B3/00;G01P15/125 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华;唐文静 |
地址: | 意大利阿格*** | 国省代码: | 意大利;IT |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 漂移 微机 探测 结构 | ||
1.一种MEMS探测结构(10),包括:
-具有顶表面(2a)的衬底(2),其上至少设置有第一固定电极装置(5a);
-传感块(3),在一个平面(xy)内延伸,并且悬浮在所述衬底(2)和所述第一固定电极装置(5a)之上的分隔间距(gap1)处;以及
-连接弹性元件(8a,8b),构造成支撑所述传感块(3),使其可以在所述平面(xy)外绕着旋转轴(A)自由旋转,根据将被探测的沿着与所述平面(xy)正交的轴(z)的量改变所述间距(gap1);
其特征在于,包括:
耦合块(12),悬浮在所述衬底(2)之上并且通过所述连接弹性元件(8a,8b)与所述传感块(3)连接;以及锚固装置(14,15),构造成将所述耦合块(12)通过至少一个第一限制点(13)锚固到所述衬底上(2),设置在与所述旋转轴(A)隔开一定距离,且位于与所述第一固定电极装置(5a)相应的位置。
2.根据权利要求1所述的结构,其中所述平面(xy)通过互相正交的第一轴(x)以及第二轴(y)所限定;并且所述第一限制点(13)相对于所述平面(xy)设置在所述第一固定电极装置(5a)的封套区内。
3.根据权利要求2所述的结构,其中所述锚固装置(14,15)构造成使得所述耦合块(12)关于所述探测的量基本上是静止的,并且所述衬底(2)在所述第一限制点(13)沿着所述正交轴(z)的位移引起所述耦合块(12)沿着所述正交轴(z)的相应的位移;并且
所述连接弹性元件(8a,8b)构造成使得所述耦合块(12)的位移引起所述传感块(3)的相应位移。
4.根据权利要求3所述的结构,其中所述锚固装置(14,15)构造成在所述第一限制点(13)限定枢转元件。
5.根据权利要求3所述的结构,其中所述第一限制点(13)设置在基本上对应于所述封套区沿着限定所述平面(xy)的第二轴(y)和/或所述第一轴(x)的中间点的位置(a,b)。
6.根据权利要求3所述的结构,其中所述锚固装置(14,15)构造成使用另外的限制点(13)将所述耦合块(12)锚固到所述衬底(2)上,从而所述衬底(2)沿着所述正交轴(z)在所述第一和另外的限制点(13)的位移引起所述耦合块(12)沿着所述正交轴(z)的相应的位移;所述耦合块(12)设计成源于所述得到的位移,根据沿着所述正交轴(z)插入所述相应位移的平面在空间内位移。
7.根据权利要求3所述的结构,其中所述第一限制点(13)设置在这样的位置(a,b),使得能够减小在所述第一限制点(13)周围区域内随着所述衬底(2)的变形而产生的、沿着所述正交轴(z)的所述传感块(3)的位移(Zmass)与所述衬底(2)的位移(Zsub)之间的平均偏差(S_mean)。
8.根据权利要求7所述的结构,其中所述第一限制点(13)设置在能够最小化所述平均偏差(S_mean)的位置(a,b)。
9.根据权利要求7所述的结构,其中所述第一轴(x)基本上平行于所述旋转轴(A),并且所述封套区具有沿着所述第二轴(y)的相对于所述旋转轴的坐标,以及沿着所述第一轴(x)的坐标,其中所述沿着第二轴(y)的坐标包含在第一最小值(x1)与第一最大值(x2)之间,所述沿着所述第一轴(x)的坐标包含在第二最小值(-w)与第二最大值(+w)之间;并且
所述第一限制点(13)设置在沿着所述第二轴(y)距离所述旋转轴(A)一定距离(b),其值位于所述第一最小值(x1)与所述第一最大值(x2)之间,并且具有沿着所述第一轴(x)的坐标(a),其包含在所述第二最小值(-w)与第二最大值(+w)之间。
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