[发明专利]一种PDGFRA基因突变检测液相芯片

权利要求书

1.一种PDGFRA基因突变检测液相芯片，其特征是，主要由以下组成：

(A)针对PDGFRA基因的突变位点，分别设计的野生型和突变型的ASPE引物对：每种ASPE引物由5’端的tag序列和3’端针对突变位点的特异性引物组成，所述特异性引物是：针对V561D位点的SEQ ID NO.8～SEQ ID NO.9、针对DIMH 842-845del缺失突变和/或IMHD843-846del缺失突变的SEQ ID NO.10～SEQ ID NO.12、和/或针对D842V位点的SEQ ID NO.13～SEQ ID NO.14，所述tag序列选自SEQ ID NO.1～SEQ ID NO.7；

(B)分别包被有特异的anti-tag序列的、具有不同颜色编码的微球，所述anti-tag序列选自SEQ ID NO.15～SEQ ID NO.21中的序列，所述anti-tag序列能相应地与(A)中所选的tag序列互补配对，且所述anti-tag序列与微球连接中间还设有间隔臂序列；

(C)用于扩增具有V561D突变位点、DIMH 842-845del缺失突变和/或IMHD 843-846del缺失突变和/或D842V的突变位点的PDGFRA基因目标序列的扩增引物。

2.根据权利要求1所述的PDGFRA基因突变检测液相芯片，其特征是，所述扩增引物为：针对V561D突变位点的SEQ ID NO.22～SEQ ID NO.23、和/或针对DIMH 842-845del缺失突变和IMHD 843-846del缺失突变及D842V突变位点的SEQ ID NO.24～SEQ ID NO.25。

3.根据权利要求1所述的PDGFRA基因突变检测液相芯片，其特征是，所述ASPE引物对为：针对V561D突变位点的由SEQ ID NO.1和SEQ ID NO.8组成的序列及由SEQ ID NO.2和SEQ ID NO.9组成的序列；针对DIMHD 842-846野生型的由SEQ ID NO.3和SEQ ID NO.10组成的序列、针对DIMH 842-845del缺失突变的由SEQ ID NO.4和SEQ ID NO.11组成的序列和/或针对IMHD 843-846del缺失突变的由SEQ ID NO.5和SEQ ID NO.12组成的序列；和/或针对D842V突变位点的由SEQ ID NO.6和SEQ ID NO.13组成的序列及由SEQ ID NO.7和SEQ ID NO.14组成的序列。

4.根据权利要求3所述的PDGFRA基因突变检测液相芯片，其特征是，

(A)所述ASPE引物对为：针对V561D突变位点的由SEQ ID NO.1和SEQ ID NO.8组成的序列及由SEQ ID NO.2和SEQ ID NO.9组成的序列；针对DIMHD 842-846野生型的由SEQ ID NO.3和SEQ ID NO.10组成的序列、针对DIMH 842-845del缺失突变的由SEQ ID NO.4和SEQ ID NO.11组成的序列和针对IMHD 843-846del缺失突变的由SEQ ID NO.5和SEQ ID NO.12组成的序列；和针对D842V突变位点的由SEQ ID NO.6和SEQ ID NO.13组成的序列及由SEQ ID NO.7和SEQ ID NO.14组成的序列；

(B)分别包被有特异的anti-tag序列的、具有不同颜色编码的微球，所述anti-tag序列选自SEQ ID NO.15～SEQ ID NO.21中的序列，所述anti-tag序列能相应地与(A)中所选的tag序列互补配对，且所述anti-tag序列与微球连接中间还设有间隔臂序列；

(C)所述扩增引物为：针对V561D突变位点的SEQ ID NO.22～SEQ ID NO.23、和针对DIMH842-845del缺失突变和IMHD 843-846del缺失突变及D842V突变位点的SEQ ID NO.24～SEQ ID NO.25。

5.根据权利要求1所述的PDGFRA基因突变检测液相芯片，其特征是，所述间隔臂序列为5～10个T。