[发明专利]一种硅基MOS管控制发光二极管的器件、阵列及制造方法无效

专利信息
申请号: 201010293194.0 申请日: 2010-09-27
公开(公告)号: CN101976668A 公开(公告)日: 2011-02-16
发明(设计)人: 刘昕彦;王鹏飞;张卫 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: H01L27/102 分类号: H01L27/102;H01L21/8252;H01L33/06;G03B21/20
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 mos 控制 发光二极管 器件 阵列 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种硅基MOS晶体管控制发光二极管的半导体器件,其特征在于包括至少两个半导体衬底、位于所述半导体衬底之上形成的一个硅基MOS晶体管和一个发光二极管,发光二极管记为LED,其中:

所述LED包括至少一个发光层、位于所述发光层之上的p型区域、位于所述发光层之下的n型区域;

所述硅基MOS晶体管包括至少一个源区、一个漏区、一个衬底区和一个栅区;

所述硅基MOS晶体管的衬底区位于发光二极管的p型区域之上,通过SiO2实现电学隔离;

所述硅基MOS晶体管的源极或漏极与所述的LED的p型区域通过金属连接。

2.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述半导体衬底为GaN、GaP、GaAs、InGaAs、InP、SiC或者其它III-V族的半导体。

3.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述LED的发光层为由AlGaAs、InGaAsP、GaP、GaAsP、AlGaInP、InGaN、GaN或SiC材料构成的单个或多重量子阱结构。

4.一种如权利要求1所述硅基MOS晶体管控制发光二极管的半导体器件的制造方法,其特征在于具体步骤包括:

提供一个半导体衬底;

在所述衬底上一次形成LED的n型区域、发光层、p型区域;

淀积形成SiO2隔离层,并在其上键合一层硅原片作为MOS器件的衬底;

依次淀积形成第一层绝缘薄膜、第一层导电薄膜;

刻蚀所述第一层绝缘薄膜、第一层导电薄膜形成硅基MOS晶体管的栅区;

进行离子注入,形成硅基MOS晶体管的源区和漏区;

刻蚀前述多余硅片部分和氧化层部分,形成LED的p型电极开口;

刻蚀前述LED的p型区域和发光层,形成LED的n型电极开口;

淀积第二层绝缘薄膜,并刻蚀所述第二层绝缘薄膜形成接触孔;

淀积第二层导电薄膜,并刻蚀所述第二层导电薄膜形成金属接触。

5.根据权利要求4所述的制造方法,其特征在于,所述半导体为GaAs、InAs、InGaAs、InP、SiC或者其它III-V族材料的半导体。

6.根据权利要求4所述的制造方法,其特征在于,所述第一层绝缘薄膜为SiO2、高k材料或者为他们之间的混合层。

7.根据权利要求4所述的制造方法,其特征在于,所述第一种绝缘介质、第二层绝缘薄膜为SiO2、Si3N4或者为他们之间的混合物。

8.根据权利要求4所述的制造方法,其特征在于,所述第一层导电薄膜为TiN、TaN、RuO2、Ru或WSi金属栅材料,或者为掺杂的多晶硅。

9.根据权利要求4所述的制造方法,其特征在于,所述第二层导电薄膜为Cu、Al、Ti、Ta或TaN金属导电材料。

10.一种硅基MOS晶体管控制发光二极管的半导体器件阵列,其特征在于,由多个如权利要求1所述的半导体器件组成一个半导体器件阵列,所述硅基MOS晶体管的漏极或源极与阵列中的多条位线中的任意一条相连接,所述MOS晶体管的栅极与阵列中的多条字线中的任意一条相连接,所述LED的负极与阵列中的多条地线中的任意一条相连接。

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