[发明专利]一种硅基MOS管控制发光二极管的器件、阵列及制造方法无效
申请号: | 201010293194.0 | 申请日: | 2010-09-27 |
公开(公告)号: | CN101976668A | 公开(公告)日: | 2011-02-16 |
发明(设计)人: | 刘昕彦;王鹏飞;张卫 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L27/102 | 分类号: | H01L27/102;H01L21/8252;H01L33/06;G03B21/20 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 mos 控制 发光二极管 器件 阵列 制造 方法 | ||
1.一种硅基MOS晶体管控制发光二极管的半导体器件,其特征在于包括至少两个半导体衬底、位于所述半导体衬底之上形成的一个硅基MOS晶体管和一个发光二极管,发光二极管记为LED,其中:
所述LED包括至少一个发光层、位于所述发光层之上的p型区域、位于所述发光层之下的n型区域;
所述硅基MOS晶体管包括至少一个源区、一个漏区、一个衬底区和一个栅区;
所述硅基MOS晶体管的衬底区位于发光二极管的p型区域之上,通过SiO2实现电学隔离;
所述硅基MOS晶体管的源极或漏极与所述的LED的p型区域通过金属连接。
2.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述半导体衬底为GaN、GaP、GaAs、InGaAs、InP、SiC或者其它III-V族的半导体。
3.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述LED的发光层为由AlGaAs、InGaAsP、GaP、GaAsP、AlGaInP、InGaN、GaN或SiC材料构成的单个或多重量子阱结构。
4.一种如权利要求1所述硅基MOS晶体管控制发光二极管的半导体器件的制造方法,其特征在于具体步骤包括:
提供一个半导体衬底;
在所述衬底上一次形成LED的n型区域、发光层、p型区域;
淀积形成SiO2隔离层,并在其上键合一层硅原片作为MOS器件的衬底;
依次淀积形成第一层绝缘薄膜、第一层导电薄膜;
刻蚀所述第一层绝缘薄膜、第一层导电薄膜形成硅基MOS晶体管的栅区;
进行离子注入,形成硅基MOS晶体管的源区和漏区;
刻蚀前述多余硅片部分和氧化层部分,形成LED的p型电极开口;
刻蚀前述LED的p型区域和发光层,形成LED的n型电极开口;
淀积第二层绝缘薄膜,并刻蚀所述第二层绝缘薄膜形成接触孔;
淀积第二层导电薄膜,并刻蚀所述第二层导电薄膜形成金属接触。
5.根据权利要求4所述的制造方法,其特征在于,所述半导体为GaAs、InAs、InGaAs、InP、SiC或者其它III-V族材料的半导体。
6.根据权利要求4所述的制造方法,其特征在于,所述第一层绝缘薄膜为SiO2、高k材料或者为他们之间的混合层。
7.根据权利要求4所述的制造方法,其特征在于,所述第一种绝缘介质、第二层绝缘薄膜为SiO2、Si3N4或者为他们之间的混合物。
8.根据权利要求4所述的制造方法,其特征在于,所述第一层导电薄膜为TiN、TaN、RuO2、Ru或WSi金属栅材料,或者为掺杂的多晶硅。
9.根据权利要求4所述的制造方法,其特征在于,所述第二层导电薄膜为Cu、Al、Ti、Ta或TaN金属导电材料。
10.一种硅基MOS晶体管控制发光二极管的半导体器件阵列,其特征在于,由多个如权利要求1所述的半导体器件组成一个半导体器件阵列,所述硅基MOS晶体管的漏极或源极与阵列中的多条位线中的任意一条相连接,所述MOS晶体管的栅极与阵列中的多条字线中的任意一条相连接,所述LED的负极与阵列中的多条地线中的任意一条相连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的