[发明专利]薄片类介质厚度鉴别装置及其鉴别方法

权利要求书

1.一种薄片类介质厚度鉴别装置，其包括：

一厚度测量模块，用于采集薄片类介质的厚度测量信息，其包括一安装在主动轴上的基准滚轮，一安装在浮动的从动轴上的从动检测滚轮以及一采集从动检测滚轮浮动位移数据的传感器；

一数据存储模块，用于存储标准厚度数据以及测量数据的基准标定数据；

一数据校正模块，用于对厚度测量模块采集的厚度测量信息依据上述基准标定数据完成数据校正，形成薄片类介质的厚度检测数据；以及

一鉴别模块，用于将上述厚度检测数据与上述标准厚度数据进行比对，完成薄片类介质厚度鉴别。

2.如权利要求1所述的薄片类介质厚度鉴别装置，其特征在于，所述厚度测量模块包括一用于采集基准滚轮或检测滚轮旋转相位参数的旋转相位检测部件。

3.如权利要求2所述的薄片类介质厚度鉴别装置，其特征在于，所述旋转相位检测部件包括一与基准滚轮或检测滚轮同轴的码盘以及一用于检测码盘相位的码盘信息读取传感器，所述码盘设置一相位标记位。

4.如权利要求3所述的薄片类介质厚度鉴别装置，其特征在于，所述相位标记位为码盘上开设的一透光孔。

5.如权利要求4所述的薄片类介质厚度鉴别装置，其特征在于，所述码盘上还设有至少一个透光率与相位标记位不同的相位孔。

6.如权利要求5所述的薄片类介质厚度鉴别装置，其特征在于，所述相位孔为10至30个。

7.如权利要求4至6任一所述的薄片类介质厚度鉴别装置，其特征在于，所述码盘信息读取传感器为一对分别安装在码盘两侧的光发射极和光接收极。

8.如权利要求3所述的薄片类介质厚度鉴别装置，其特征在于，所述相位标记位为涂布在码盘表面上的一吸光材料点。

9.如权利要求8所述的薄片类介质厚度鉴别装置，其特征在于，所述码盘表面上还设有至少一个由吸光率与相位标记位的吸光率不同的吸光材料点形成的相位点，所述相位标记位、相位点与码盘中心点距相同。

10.如权利要求9所述的薄片类介质厚度鉴别装置，其特征在于，所述相位点为10至30个。

11.如权利要求8至10任一所述的薄片类介质厚度鉴别装置，其特征在于，所述码盘信息读取传感器为一对安装在码盘涂布吸光材料一侧的光发射极和光接收极。

12.一种如权利要求1所述的薄片类介质厚度鉴别装置的鉴别方法，其包括如下步骤：

步骤1，通过厚度测量模块采集薄片类介质的厚度测量信息；

步骤2，通过数据校正模块对厚度测量模块采集的厚度测量信息依据预先存储的基准标定数据完成数据校正，形成薄片类介质的厚度检测数据；

步骤3，通过鉴别模块将上述厚度检测数据与标准厚度数据进行比对，完成薄片类介质厚度鉴别。

13.如权利要求12所述的薄片类介质厚度鉴别方法，其特征在于，所述厚度测量信息包括基准滚轮或检测滚轮旋转相位角以及其对应的位移数据。

14.如权利要求13所述的薄片类介质厚度鉴别方法，其特征在于，所述预先存储的基准标定数据包括没有介质通过时基准滚轮或检测滚轮每个旋转相位角以及其对应的位移数据。