[发明专利]粒子分析仪

权利要求书

1.一种粒子分析仪，包括：

流动池，能让含有作为拍摄目标的多个粒子的试样流过；

成像器件，用于拍摄通过所述流动池的所述试样中的粒子；

图像处理部件，根据所述成像器件拍摄的粒子图像获取关于粒度的第一参数的第一特征值、关于粒度的第二参数的第二特征值和关于粒度的第三参数的第三特征值；

控制部件，用于生成并输出同时显示所述第一至第三特征值的界面。

2.根据权利要求1所述的粒子分析仪，其特征在于：

所述第一参数是等效圆直径，所述第二参数是长轴径，所述第三参数是短轴径。

3.一种粒子分析仪，包括：

流动池，能让含有作为拍摄目标的多个粒子的试样流过；

成像器件，用于拍摄通过所述流动池的所述试样中的粒子；

图像处理部件，根据所述成像器件拍摄的粒子图像获取关于粒子形状的第一参数的第一特征值、关于粒子形状的第二参数的第二特征值和关于粒子形状的第三参数的第三特征值；

控制部件，用于生成并输出同时显示所述第一至第三特征值的界面。

4.根据权利要求3所述的粒子分析仪，其特征在于：

所述第一参数是圆形度，所述第二参数是纵横比，所述第三参数是包络度。

5.根据权利要求1～4中任意一项所述的粒子分析仪，其特征在于：

所述界面包含雷达图表、折线图、或直线图。

6.根据权利要求1～4中任意一项所述的粒子分析仪，其特征在于：

所述成像器件拍摄多个粒子，获得多个粒子图像，

所述图像处理部件根据所得的多个粒子图像获取所述第一至第三特征值。

7.根据权利要求6所述的粒子分析仪，其特征在于：

所述图像处理部件就所述多个粒子图像分别获取所述第一至第三参数的特征值，并分别求出获取的所述第一至第三参数的特征值的平均值，将其作为所述第一至第三特征值。

8.根据权利要求1～4中任意一项所述的粒子分析仪，其特征在于：

所述成像器件拍摄多个粒子，获得多个粒子图像，

所述图像处理部件根据所得各个粒子图像获取所述第一至第三特征值。

9.根据权利要求8所述的粒子分析仪，其特征在于：

所述控制部件针对从显示有所述多个粒子的一览表中选择的所述粒子，输出所述界面。

10.根据权利要求1～4中任意一项所述的粒子分析仪，其特征在于：

所述界面同时显示就第一试样获取的第一至第三特征值和就第二试样获取的第一至第三特征值。

11.根据权利要求1～4中任意一项所述的粒子分析仪，其特征在于：

所述控制部件还有一个输入接受部件，所述输入接受部件用于接受输入以设定所述第一至第三参数。