[发明专利]应用高温膨胀仪进行电瓷坯体烧成温度范围的测定方法

权利要求书

1.一种应用高温膨胀仪进行电瓷坯体烧成温度范围的测定方法，其特征在于：对电瓷坯体的线膨胀率曲线(1)进行微分，得到线膨胀率曲线的一次微分曲线(2)；由线膨胀率曲线(1)通过公式1和公式2联合计算出热膨胀系数曲线(3)；

α＝dL/L₀×[1/(t_h-t₀)]+α₀               (公式1)

其中：

α——试样(t_h-t₀)的平均线膨胀系数(10^-6℃^-1或10^-6K^-1)；

dL——试样由温度t₀升至t_h的长度伸长量(mm)；

L₀——室温(t₀)下试样的长度(mm)；

t₀——试验时的起始温度(℃)；

t_h——试验实际加热温度(℃)；

α₀——仪器的校正系数(10^-6℃^-1或10^-6K^-1)；

A＝dL/L₀×100+α₀(t_h-t₀)×100            (公式2)

其中：

A——试样(t_h-t₀)的平均线膨胀率(％)；

一次微分曲线(2)的最后一个递减区域内对应坐标中最高温度，为电瓷坯体烧成的最低温度点；

热膨胀系数曲线(3)的最后一个递减区域内对应坐标中最高温度，为电瓷坯体烧成的最高温度点。

2.如权利要求1所述一种应用高温膨胀仪进行电瓷坯体烧成温度范围的测定方法，其特征在于：线膨胀率曲线(1)由高温膨胀仪测得。

3.如权利要求2所述一种应用高温膨胀仪进行电瓷坯体烧成温度范围的测定方法，其特征在于：所述高温膨胀仪为德国耐驰公司生产的DIL402PC型的高温膨胀仪。

4.如权利要求2或3所述一种应用高温膨胀仪进行电瓷坯体烧成温度范围的测定方法，其特征在于：高温膨胀仪测试试样时温度范围为常温～1600℃。

5.如权利要求4所述一种应用高温膨胀仪进行电瓷坯体烧成温度范围的测定方法，其特征在于：所述试样的大小为φ6×25mm。

6.如权利要求2所述一种应用高温膨胀仪进行电瓷坯体烧成温度范围的测定方法，其特征在于：所述高温膨胀仪的升温速率为5k/min。