[发明专利]测试数模及模数转换器的方法

说明书

技术领域

本发明针对测试数模及模数转换器的方法并且针对适合于测试转换器的包括数模转换器或模数转换器的集成电路。

背景技术

数模转换器(“DAC”)将数字输入信号转换成模拟输出信号。模数转换器(“ADC”)将模拟输入信号转换成数字输出信号。一种用于DAC和ADC的技术(称为电阻梯(resistor ladder))使用参考电压横跨其间施加的一组重复的电阻器元件以形成电压分配器(voltage divider)或电流分配器(current divider)。分配器的连续分接头产生连续的步进式变化的电压。在DAC中，分接头由作为数字输入信号的函数所控制的开关选择以产生DAC模拟输出信号。逐次逼近的寄存器ADC可以包括电阻梯DAC，其中数字信号被施加于该电阻梯DAC上并且被调整直到电阻梯DAC的模拟输出变成与待转换的模拟输入信号相等，施加于电阻梯DAC的数字信号然后变成ADC的输出。

DAC或ADC可以包括单组相同电阻的重复电阻器元件。但是，DAC或ADC可以包括两组重复电阻器元件，一组电阻器元件具有与另一组元件不同的电阻。由一组电阻器元件所限定的粗步(coarse step)大于由另一组电阻器元件所限定的细步(fine step)。细步组的分接头由数字输入信号的较不显著的位所选择以便插入在粗步组的分接头处的电压之间，该粗步组的分接头由数字输入信号较显著位所选择。DAC或ADC甚至可以包括多于两组的此类电阻各自不同的重复电阻器元件。这种DAC或ADC称为粗-细DAC或ADC。

此类电路的精确性和功能性需要在设计验证阶段、系统验证阶段并且还在包括DAC或ADC的集成电路(“IC”)的生产期间测试。此类混合信号电路的测试呈现了困难，并且特别是既昂贵又耗时。为了便于测试，含有DAC或ADC的IC可以包括使激励生成及测量能够在IC中执行的内置自测试(“BIST”)特征。BIST的主要目的是降低复杂度，并且由此降低测试成本以及减少对外部(模式编程的)测试设备的依赖。通过减少在测试器控制之下必须驱动或检查的输入/输出(“I/O”)信号的数量，BIST特征减少了测试循环持续时间并且降低了测试/探针建立的复杂度。这两项导致了自动测试设备(“ATE”)服务的成本降低。

附图说明

本发明通过实例的方式说明并且并不限定于其在附图中示出的实施例，在附图中相似的参考指示相似的元素。附图中的元素出于简单及清晰起见而示出而并不一定按比例绘制。

图1是用于测试数模转换器或模数转换器的系统的示意性框图，该系统可以使用于根据本发明的一种实施例的测试方法中；

图2是数模转换器以及可以使用于根据本发明的另一实施例的数模转换器的测试方法中的测试设备的示意性框图；

图3是含有数模转换器的集成电路的，以及可以使用于根据本发明的又一实施例的数模转换器的测试方法中的测试设备的示意性框图；

图4是可以将本发明的一种实施例应用于其上的粗-细数模转换器的示意性框图；

图5是可以使用于可以将本发明的一种实施例应用于其上的数模转换器或模数转换器中的粗-细电阻梯电压分配器的电路图；以及

图6是测试根据本发明的实施例的数模转换器或模数转换器的方法的流程图。

发明内容