[发明专利]一种不匹配封接应力释放结构有效
申请号: | 201010298286.8 | 申请日: | 2010-09-30 |
公开(公告)号: | CN101920926A | 公开(公告)日: | 2010-12-22 |
发明(设计)人: | 丁荣峥;张顺亮;唐桃扣 | 申请(专利权)人: | 无锡中微高科电子有限公司 |
主分类号: | B81B7/00 | 分类号: | B81B7/00 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所 32104 | 代理人: | 殷红梅 |
地址: | 214028 江苏省无锡市新区无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 匹配 接应 释放 结构 | ||
1. 一种不匹配封接应力释放结构,其特征是:包括封接支撑环(13),所述封接支撑环(13)包括位于内圈的芯片焊接区(1)及位于所述芯片焊接区(1)外圈的外壳钎焊区(2),所述外壳钎焊区(2)与芯片焊接区(1)间通过应力释放区(3)相连。
2.根据权利要求1所述的一种不匹配封接应力释放结构,其特征是:所述应力释放区(3)由多个均匀对称分布在外壳钎焊区(2)与芯片焊接区(1)间的应力释放块组成,所述应力释放块与外壳钎焊区(2)及芯片焊接区(1)一体成型。
3.根据权利要求2所述的一种不匹配封接应力释放结构,其特征是:所述应力释放块呈Z形。
4.根据权利要求1所述的一种不匹配封接应力释放结构,其特征是:所述封接支撑环(13)为方形或圆形。
5.根据权利要求1所述的一种不匹配封接应力释放结构,其特征是:所述芯片焊接区(1)上设有固定连接的红外MEMS芯片(7),芯片焊接区(1)与红外MEMS芯片(7)的形状相匹配;芯片焊接区(1)的中心区设有通孔(14)。
6.根据权利要求5所述的一种不匹配封接应力释放结构,其特征是:所述红外MEMS芯片(7)与芯片焊接区(1)相焊接固定。
7.根据权利要求1所述的一种不匹配封接应力释放结构,其特征是:所述封接支撑环(13)位于壳体(4)内,所述壳体(4)的两端分别凹设有第一定位槽(5)及第二定位槽(11),所述第一定位槽(5)与第二定位槽(11)内均设有窗口(6),所述窗口(6)间形成安装腔体(12);窗口(6)与壳体(4)相密封固定;壳体(4)上设有密封管(9),所述密封管(9)与安装腔体(12)相连通;所述安装腔体(12)内设有安装台阶(8),封接支撑环(13)的外壳钎焊区(2)焊接固定于安装台阶(8)上。
8.根据权利要求7所述的一种不匹配封接应力释放结构,其特征是:所述窗口(6)与壳体(4)相焊接固定。
9.根据权利要求7或8所述的一种不匹配封接应力释放结构,其特征是:所述窗口(6)的材料包括玻璃。
10.根据权利要求7所述的一种不匹配封接应力释放结构,其特征是:所述密封管(9)的轴线与壳体(4)的轴线相垂直;密封管(9)的一端嵌置在壳体(4)内,并通过位于壳体(4)上的连接口(10)与安装腔体(12)相连通。
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