[发明专利]光能测量装置无效
| 申请号： | 201010299085.X | 申请日： | 2010-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN102445268A | 公开（公告）日： | 2012-05-09 |
| 发明（设计）人： | 陈昱树;江国丰;陈颖庆;黄正杰;罗国萌;卢建廷 | 申请（专利权）人： | 富士迈半导体精密工业（上海）有限公司;沛鑫能源科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01J1/04;G01J1/06 |
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| 地址： | 201600 上海市松江区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光能 测量 装置 | ||
1.一种光能测量装置，其包括沿光轴依次设置的平行光发射器、菲涅尔透镜、光纤阵列，以及光能测量仪，该光纤阵列包括多个相邻设置的光纤，每一光纤相对两端分别包括一入光面和一出光面，该多个光纤的入光面在该菲涅尔透镜的焦点处共面并定义一光能入射面，该多个光纤的出光面共面并定义一光能出射面，该光能测量仪包括光能探头和连接该光能探头的测量单元，该光能探头同该光能出射面光学耦合，该平行光发射器所发出的平行光线经菲涅尔透镜汇聚后至少照射部分该光能入射面，该光能测量仪用于感测并计算该光纤阵列光能入射面的光能分布。
2.如权利要求1所述的光能测量装置，其特征在于：每一光纤的横截面为方形。
3.如权利要求1所述的光能测量装置，其特征在于：每一光纤的横截面为圆形。
4.如权利要求1所述的光能测量装置，其特征在于：每一光纤延伸的方向与光轴平行。
5.如权利要求1所述的光能测量装置，其特征在于：该光能入射面垂直该光轴对称设置。
6.如权利要求5所述的光能测量装置，其特征在于：该光能入射面的面积小于平行光线经菲涅尔透镜汇聚后在焦点处产生的光斑的面积。
7.如权利要求6所述的光能测量装置，其特征在于：该光能入射面为条状的长方形平面。
8.如权利要求7所述的光能测量装置，其特征在于：进一步包括一转动装置，该转动装置使该光能入射面围绕该光轴转动。
9.如权利要求1所述的光能测量装置，其特征在于：每一光纤的外表面设有反射膜。
10.如权利要求1所述的光能测量装置，其特征在于：该光能探头为多个，每一光能探头对应与一光纤的出光面光学耦合。
11.如权利要求1所述的光能测量装置，其特征在于：进一步包括一连接该平行光发射器的角度调整装置，该角度调整装置用于调整该平行光发射器所发出的光线与光轴之间的角度。
12.如权利要求1所述的光能测量装置，其特征在于：进一步包括一显示器，该显示器根据该测量单元提供的数据显示该光能入射面的光能分布图像。
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