[发明专利]浪涌电流检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及设置在保护器中的浪涌电流检测装置，其保证和保护受保护的一块设备例如通信电路单元、电力供应电路单元等免遭雷电等引起的并穿透进入与受保护的一块设备相连的导体例如通信线路、供电线路等中的浪涌电流，更具体地，本发明涉及用于通过利用由于穿入它的浪涌电流而在导体周围产生的磁场检测浪涌电流的穿透状态的浪涌电流检测装置。

背景技术

近来，尽管受保护的一块设备例如通信电路单元、电力供应单元等的质量正在不断提高，但是，其中受保护的一块设备被雷电等损坏的损坏情形的数量正趋于不断上升。例如，当雷电击中建筑物的周边设施时，浪涌电流在雷电击中的位置周围流动。当浪涌电流穿透进入周边设施内部时，受保护的一块设备会被损坏。这样，需要一种用于检测浪涌电流的穿透的浪涌电流检测装置。

为了受保护的一块设备不遭受损坏，浪涌保护装置(SPD)，其也可以称作保护器，设置在设施中。但是，即使在具有保护受保护的一块设备免遭雷电浪涌电流的功能的保护器中，保护元件(也就是，雷电保护元件)例如设置在保护器中的避雷器、变阻器等会受到损坏。这样，类似于受保护的设施，用于检测浪涌电流的穿透的浪涌电流检测装置对于保护器是需要的。

在保护器中，其中内部保护元件例如变阻器、避雷器等由于施加到其上的浪涌电流和浪涌电压不可避免地受制于逐渐的劣化。因为劣化元件的各自的内在功能衰退，提前用一个新的保护器更换劣化的保护器是重要的。

作为用于解决上述问题的现有技术，现有技术的浪涌电流检测装置公开在例如下面的专利中：

文献1-3：

[专利文献1]：JP-2005-150657A

[专利文献2]：JP-2006-244889A

[专利文献3]：JP-2007-242569A

在公开在专利文献1中的浪涌电流检测装置中，保护元件例如变阻器的劣化程度通过热敏材料的颜色改变而被确定，它是利用由在雷击时流动导体的浪涌电流引起的焦耳热的。特别地，热敏材料位于保护元件例如变阻器上，当浪涌电流流过保护元件时并且当保护元件运行时产生焦耳热，从而改变热敏材料的颜色。

在专利文献2和3中公开的浪涌电流检测装置中，类似于上述的情形，确定方法使用焦耳热，并且保护元件的劣化程度通过利用由能够热收缩的材料组成的金属的收缩而确定。例如，当可收缩金属材料由于浪涌电流的焦耳热而缩小时，通过利用随着收缩能力而露出隐藏的劣化标记并能够被观察到的机械机构进行劣化确定。

再者，在下面的专利文献4中公开了磁性显示介质的技术，它可以可视地确认卡的信息内容，但是其不属于讨论的保护器技术领域。

[专利文献4]：JP-H05-016578A

公开在专利文献4中的磁性显示介质包括具有设置在其上的信息存储部分和磁性显示部分的基板。信息存储部分由磁带或者IC(集成电路)存储器形成。磁性显示部分包括设置在其上的记录层和基板。记录层通过直接用多个微囊体涂覆基板或者通过用多个微囊体借助于适当的中间层的介质而涂覆在基板上而形成。每一微囊体包含适当的液体、悬浮在液体中并易于受到磁场影响的多个磁性粒子。磁性显示部分被组成为以使得一条信息可以根据存储在信息存储部分上的信息而可视地显示在记录层上，并且使得移位的一条信息可以从记录层擦除，如果有必要的话。

进一步地，涉及这样的微囊体的技术公开在下面的专利文献5中：

[专利文献5]：JP-H11-076801A

然而现有技术的浪涌电流检测装置，如在专利文献1-3中公开的，具有下面的待解决问题(a)、(b)和(c)，如在下文提及的：

(a)现有技术的浪涌电流检测装置利用流过导体的浪涌电流的焦耳热以为了确定保护元件例如变阻器、避雷器等的劣化程度。因为浪涌电流必须快速流过导体，所以必须使得导体的电阻非常小。由于该原因，浪涌电流在非常短的时间段内流动通过导体，这样焦耳热的量较小，从而导致劣化检测的敏感度降低。

(b)因为现有技术的利用可收缩金属材料的浪涌电流检测装置包括物理机构，其中可收缩金属材料的收缩度被放大以能够可视地显示，这使得难以减小这些装置的尺寸。

(c)在现有技术的利用热敏材料和可收缩金属材料的浪涌电流检测装置中，难以或者不可能再次使用这些材料，这样使用过的材料与保护器一起被丢弃，从而浪费许多资源。

简而言之，现有技术的浪涌电流检测装置中，存在劣化检测的敏感度差，难以缩小装置尺寸以及不可能重复使用所述装置的问题。