[发明专利]电源测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试系统，特别是一种电源测试系统。

背景技术

作为PC(Personal Computer，个人电脑)的“动力系统”，电源系统为主板、键盘、鼠标、系统时钟、软件开关机以及PC网络远程唤醒提供必备电源，电源系统的性能是提高PC整机系统的可用性、可靠性的关键之一。

因此对PC电源供应器进行严格的测试尤为必要，电源测试的项目通常包括老化测试(Burn-in test)、循环开关机测试(ON/OFF Cycling test)等等。老化测试是指仿照或者等效产品的使用状态，并且使产品在较高的温度下工作，加速产品的整机及零器件的老化。老化测试使产品的缺陷在出厂前暴露，如焊接点的可靠性、产品在设计、材料和工艺方面的各种缺陷。通过老化测试的产品性能较为稳定可靠，能减少返修率。

传统的电源测试系统通常包括一测试机柜及一控制设备，测试时，可将多个电源供应器同时放置于所述测试机柜中，测试者可通过操作所述控制设备上的各个按钮控制所述测试机柜内的温度及测试时间长度，对被测电源进行老化测试、循环开关机测试等。但是，传统的电源测试系统的控制设备功耗很大、成本高、且自动化程度不高。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种能耗及成本较低且自动化程度较高的电源测试系统。

一种电源测试系统，用于测试至少一电源供应器，包括一测试机柜及一测试控制装置，所述测试机柜提供一电子负载，所述电源供应器置于所述测试机柜内并连接至所述电子负载，所述测试控制装置包括一单片机，所述单片机接有一可用于设置测试时间及温度参数的设置模组及一温度感测模组，所述单片机根据所述设置模组及温度感测模组提供的信息自动控制测试所述电源供应器的温度条件及时间长度。

相较于现有技术，本发明电源测试系统利用所述测试控制装置的单片机发出信号自动控制测试所述电源供应器的时间、温度，能耗及成本较低且自动化程度较高。

附图说明

图1是本发明较佳实施方式电源测试系统的组成图。

图2是图1中装有被测电源的测试机柜的组成图。

图3是图1中测试控制装置的组成图。

图4至图7是图3的具体电路图。

主要元件符号说明

具体实施方式

请参阅图1，本发明电源测试系统较佳实施方式包括一测试机柜10及一测试控制装置20，所述测试机柜10及所述测试控制装置20用于对至少一被测电源30进行老化测试、开关机测试等。所述被测电源30置于所述测试机柜10内，在预设的温度条件及测试时间内完成测试。

请参阅图2，所述测试机柜10包括一第一区域102及一第二区域104。所述被测电源30置于所述第一区域102内。所述第一区域102内装有一第一温度感测器11、一第一风扇12及一加热器13。所述第一温度感测器11感应被测电源30所在环境的温度，所述测试控制装置20在所述被测电源30的环境温度超出预定值(如45℃)时启动所述第一风扇12使被测电源30降温，在被测电源30的环境温度低于预定值时启动所述加热器13使被测电源30升温，从而保证被测电源30在测试时的温度保持在45℃(允许+1℃的误差)。所述第二区域104内装有一电子负载14、一第二温度感测器15及一第二风扇16。所述被测电源30与所述电子负载14相连。所述第二温度感测器15感应所述电子负载14所在环境的温度，所述测试控制装置20在所述电子负载14的环境温度超出预定温度(如25℃)时启动所述第二风扇16使电子负载14降温，使所述电子负载14在测试时保持25℃或25℃以下的温度。所述第一区域102及第二区域104在所述测试机柜10内被隔离开来，以避免所述被测电源30与所述电子负载14所在环境的温度相互干扰。

请参阅图3，所述测试控制装置20包括一MCU(Microcontroller Unit，微控制器)200，MCU又称单片机(Single Chip Microcomputer)，是将计算机的CPU(Central ProcessingUnit，中央处理器)、RAM(Random Access Memory，随机存取存贮器)、ROM(Read OnlyMemory，只读存储器)、定时计数器和多种I/O(输入/输出)接口集成在一片芯片上，形成芯片级的计算机。