[发明专利]ICT测试辅助治具及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种应用于ICT测试中测试主板底部测试点的测试治具及其方法。

背景技术

ICT(incircuit tester，简称ICT)测试主要是利用测试探针接触主板上的测试点来检测主板的线路开路、短路及元件的焊接情况，所述ICT测试分为开路测试、短路测试、电阻测试、电容测试、二极管测试、三极管测试、场效应管测试、IC管脚测试等其它通用或特殊元器件的漏装、错装、参数值偏差、焊点连焊、线路板开短路等故障，并将故障是出现在哪个组件或开短路位于哪个测试点告诉用户，对组件的焊接测试有较高的识别能力。

技术人员在进行ICT测试中会制作针对主板测试点使用不同类型的探针位置的插针图及对应的插针板。如图1及图2所示，分别为ICT测试中利用尖形探针测试及利用爪型探针测试的附图，其中，参照图1所示，尖形探针20穿出固定载板101上对应设置的缩孔1011以与主板40底部的焊盘401接触，而于图2中，爪型探针30穿出固定载板101上对应设置的宽孔1012以与主板40底部的插件元件的插脚402接触，以进行ICT测试。

由上述图示可知，若技术人员在应使用爪型探针30的位置误使用尖形探针20，会令尖形探针20穿出固定载板101上的宽孔1012而扎坏主板40底部的插件元件的插脚402，令其对接地点短路，从而导致批量的产品报废，又，若技术人员在应使用尖形探针20的位置误使用爪型探针30，则令爪型探针30无法穿出固定载板101上的缩孔1012从而无法进行测试，因此，利用上述ICT测试工具及其测试方法难以找出误用探针类型的测试点，且测试时容易造成产品报废的情况。

发明内容

鉴于上述问题，本发明提供了一种应用于ICT测试中是否出现探针类型使用错误的测试治具及其测试方法。

为了达到上述目的，本发明提供了如下的技术方案：一种ICT测试辅助治具，用以于ICT测试中利用探针测试主板底部的测试点时是否出现使用探针错误的情况，该测试治具包括固定载板、检查板以及与该检查板重叠设置的短路板，其中，该固定载板上设置有供探针穿出以接触短路板的通孔，该检查板于测试时放置于该固定载板上，且该检查板对应固定载板上的通孔分别设置有缩孔，如此，探针顺次穿出固定载板的通孔及检查板的缩孔以与短路板接触。

较佳的，本发明提供了一种ICT测试辅助治具，其中，所述探针包括爪型探针及尖形探针，所述固定载板上的通孔包括供尖形探针穿出的缩孔及供爪型探针穿出的宽孔，所述短路板为金属板，所述检查板为绝缘板，所述测试点包括主板底部的焊盘及元件脚。

此外，本发明还提供了一种ICT测试方法，用以于ICT测试中利用探针测试主板底部的测试点时是否出现使用探针错误的情况，其中，该测试方法主要包括以下步骤：

步骤a.将检查板及与其重叠设置的短路板放置于固定载板上，且令该检查板上设置的缩孔与固定载板的通孔分别对应；

步骤b.将插针板上的探针顺次对应穿出通孔及缩孔，以令探针与短路板接触；

步骤c.利用ICT测试仪对主板底部的测试点进行扫描；

步骤d.判断探针类型是否使用正确，即需使用尖形探针的测试点是否是开路，需使用爪型探针的测试点是否是短路；

步骤e.若需使用尖形探针的测试点开路，需使用爪型探针的测试点短路，则此测试点所使用的探针类型错误，报错并修改类型使用错误的探针，继续步骤b，直至测试结束；

步骤f.若需使用尖形探针的测试点短路，需使用爪型探针的测试点开路，则此测试点所使用的探针类型正确，测试结束。

较佳的，本发明提供了一种ICT测试方法，其中，所述短路板为金属板，所述检查板为绝缘板，所述固定载板上的通孔包括供尖形探针穿出的缩孔及供爪型探针穿出的宽孔，所述测试点包括主板底部的焊盘及元件脚。

相较于先前技术，本发明ICT测试辅助治具及其测试方法，用以于ICT测试中利用探针测试主板底部的测试点时是否出现使用探针错误的情况，不仅有效避免了测试时容易产生产品报废的情况，而且便于测试人员找出误用探针类型的测试点以进行纠正，从而令测试顺利完成。

附图说明

图1为现有ICT测试中利用尖形探针测试的附图

图2为现有ICT测试中利用爪型探针测试的附图

图3为本发明所述ICT测试辅助治具的示意图

图4为本发明所述ICT测试方法的流程图

具体实施方式