[发明专利]产品轮廓制程能力验证系统及方法无效

专利信息
申请号: 201010300958.4 申请日: 2010-01-29
公开(公告)号: CN102142142A 公开(公告)日: 2011-08-03
发明(设计)人: 张旨光;吴新元 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 产品 轮廓 能力 验证 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种产品轮廓制程能力验证方法,其特征在于,该方法包括:

获取N组产品轮廓的点云,其中,所述N取大于1的正整数;

选择其中的第一组点云,计算该第一组点云中每个点距离一个理论轮廓线的距离,从而得到该每个点的偏差值,并记录理论轮廓线上对应的最近点;

获取上述第一组点云中的每个点与理论轮廓上对应的最近点所组成的直线与其他N-1组点云所组成的各个轮廓线的交点;

计算该各个交点到上述理论轮廓线的距离,从而得到该每个交点的偏差值;及

根据上述第一组点云与上述各个交点中的每个点的偏差值拟合出至少一条轮廓。

2.如权利要求1所述的产品轮廓制程能力验证方法,其特征在于,在获取N组点云之前,该方法还包括:

在该产品一个周期的生产过程中,每间隔一个固定的时间抽取该产品n件,以得到N件抽样产品,所述n取大于或者等于1的正整数;

根据相同的扫描基准扫描该N件抽样产品的外轮廓,以得到上述的N组点云,并存储该N组点云至一个存储设备中。

3.如权利要求1所述的产品轮廓制程能力验证方法,其特征在于,在拟合出至少一条轮廓之后,该方法还包括:

将拟合出的至少一条轮廓中每个点的偏差值与一个预设的偏差颜色带相比较,从而为该轮廓中的每个点标示颜色;

根据坐标最近原则或者扫描顺序原则将该轮廓中的每个轮廓的点两两相连成直线,以生成轮廓线;

根据每条直线的起始点颜色标示该直线的颜色;及

输出该标示了颜色的轮廓线至一个显示设备。

4.如权利要求1所述的产品轮廓制程能力验证方法,其特征在于,所述的理论轮廓线是由检测人员输入或者从一个存储设备中获取。

5.如权利要求1所述的产品轮廓制程能力验证方法,其特征在于,所述的至少一条轮廓包括最小轮廓,25%轮廓,平均轮廓,75%轮廓,及最大轮廓中的一条或者多条,其中:

所述最小轮廓是指由第一组点云中的每个点与理论轮廓上对应的最近点所组成的直线上的各个交点中具有最小偏差值的交点所组成的轮廓;

所述25%轮廓是指由第一组点云中的每个点与理论轮廓上对应的最近点所组成的直线上的各个交点中最小偏差值与该各个交点的平均偏差值的和再除以2得到的值所构造出的第一新点所组成的轮廓;

所述的平均轮廓是指由第一组点云中的每个点与理论轮廓上对应的最近点所组成的直线上的各个交点的偏差值的平均值所构造出来的第二新点组成的轮廓;

所述的75%轮廓是指由第一组点云中的每个点与理论轮廓上对应的最近点所组成的直线上的各个交点中最大偏差值与该各个交点的平均偏差值的和再除以2得到的值所构造出的第三新点所组成的轮廓;

所述的最大轮廓是指由第一组点云中的每个点与理论轮廓上对应的最近点所组成的直线上的各个交点中具有最大偏差值的交点所组成的轮廓。

6.一种产品轮廓制程能力验证系统,其特征在于,该系统包括:

偏差值计算模块,用于获取N组产品轮廓的点云,选择其中的第一组点云,计算出该第一组点云中每个点距离一个理论轮廓线上的距离,从而得到该每个点的偏差值,并记录理论轮廓线上对应的最近点,其中,所述N取大于1的正整数;及

轮廓合成模块,用于计算上述第一组点云中的每个点与所述理论轮廓上对应的最近点所组成的直线与其他N-1组点云所组成的轮廓线的交点,计算上述各个交点到理论轮廓线的距离,从而得到该每个交点的偏差值,根据上述第一组点云与上述各个交点中的每个点的偏差值拟合出至少一条轮廓。

7.如权利要求6所述的产品轮廓制程能力验证系统,其特征在于,该系统还包括:

存储设备;及

扫描设备,用于根据相同的扫描基准扫描N件抽样产品的外轮廓,以得到上述N组点云,并存储该N组点云至上述存储设备中。

8.如权利要求7所述的产品轮廓制程能力验证系统,其特征在于,所述N件抽样产品是在该产品一个周期的生产过程中,每间隔一个固定的时间抽取该产品n件而得到的,其中,n取大于或者等于1的正整数。

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