[发明专利]地下介质成像方法和装置有效

专利信息
申请号: 201010500142.6 申请日: 2010-09-29
公开(公告)号: CN102012517A 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: 刘国峰 申请(专利权)人: 北京吉星吉达科技有限公司
主分类号: G01V1/00 分类号: G01V1/00;G01V1/28
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 张红莲
地址: 100029 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 地下 介质 成像 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种地下介质成像方法,其特征在于,包括:

在炮点激发人工地震,获取炮点和检波点的地震数据;

分解标量波动方程的旁轴近似解,获得透镜项和绕射项;

拆分所述绕射项,获得纵线方向绕射项和测线方向绕射项;

根据所述炮点和检波点的地震数据,采用谱微分矩阵差分法分别对所述纵线方向绕射项和测线方向绕射项进行延拓求解,分别获得所述炮点和检波点的指定地下深度层的波场;

根据所述炮点和检波点的指定地下深度层的波场进行褶积计算,获得所述指定地下深度层的地下介质的像。

2.根据权利要求1所述的地下介质成像方法,其特征在于,所述根据所述炮点和检波点的地震数据,采用谱微分矩阵差分法分别对所述纵线方向绕射项和测线方向绕射项进行延拓求解,分别获得所述炮点和检波点的指定地下深度层的波场包括:

在所述纵线方向绕射项和测线方向绕射项中代入所述炮点和检波点的地震数据;

采用谱微分矩阵差分法分别求解所述纵线方向绕射项和测线方向绕射项,获得中间地下深度层的纵线方向和测线方向的波场;

判断所述中间地下深度层是否等于指定地下深度层;

如果是,结束所述延拓求解的计算流程;

否则,在所述纵线方向绕射项和测线方向绕射项中分别代入所述中间地下深度层的纵线方向和测线方向的波场,返回执行所述采用谱微分矩阵差分法分别求解所述纵线方向绕射项和测线方向绕射项的步骤。

3.根据权利要求2所述的地下介质成像方法,其特征在于,所述采用谱微分矩阵差分法分别求解所述纵线方向绕射项和测线方向绕射项包括:

根据差分算法分别求解所述纵线方向绕射项和测线方向绕射项,其中,所述差分算法的差分算子为谱微分矩阵。

4.根据权利要求3所述的地下介质成像方法,其特征在于,所述谱微分矩阵中的每一项为:

dp,q=12(2πnxΔx)2(-1)p+q+11sin2(π(p-q)/nx),pq-(2πnxΔx)2(nx/2)2+16,p=q]]>

其中,nx为差分方向的总离散点数,Δx为差分方向的间距,p为谱微分矩阵的行序号,q为谱微分矩阵的列序号。

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