[发明专利]荧光灯管检查方法及装置无效

专利信息
申请号: 201010501548.6 申请日: 2010-10-08
公开(公告)号: CN102446672A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 邓智敏;叶国光 申请(专利权)人: 上海东利荧光灯有限公司;浙江明凯照明有限公司
主分类号: H01J9/42 分类号: H01J9/42
代理公司: 上海世贸专利代理有限责任公司 31128 代理人: 严新德
地址: 200237*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 荧光 灯管 检查 方法 装置
【说明书】:

技术领域:

发明涉及电气领域,尤其涉及荧光灯管的生产技术,特别是一种荧光灯管检查装置。

背景技术:

荧光灯管在生产过程中需要进行漏气和外观检查。现有技术中,使用高频火花器点亮荧光灯管后进行漏气检查。因为高频火花器只能点亮灯管的局部范围,无法使整根灯管完全点亮,所以无法进行包括荧光粉层缺陷、玻璃管缺陷在内的外观检查。并且,高频火花器在工作时会发出很大的噪声,在空气中放电会产生大量臭氧,在空中产生电火花容易造成检查人员被电击。

发明内容:

本发明的目的在于提供一种荧光灯管检查方法,所述的这种荧光灯管检查方法要解决现有技术中高频火花器不能实现荧光灯外观检查、高频电火花带来安全隐患、环境污染的技术问题。

本发明的这种荧光灯管检查方法包括一个点亮待测荧光灯管的过程,其中,在所述的点亮待测荧光灯管的过程中,利用一个高频电磁场来激励待测荧光灯管,在待测荧光灯管点亮后,通过目视方法检查荧光灯管工作状态和颜色。

进一步的,利用高频电磁波发射器、功率放大器、天线调谐器、发射天线和电源产生一个高频电磁场,将待测荧光灯管放置到高频电磁场中。

进一步的,电源提供高频电磁波发射器的工作电流,利用功率放大器放大高频电磁波发射器的输出信号,放大后的高频电磁波经过天线调谐器后由发射天线产生高频电磁场。

本发明还提供了一种实现上述荧光灯管检查方法的装置,所述的这种装置由高频电磁波发射器、功率放大器、天线调谐器、发射天线和电源构成,其中,所述的高频电磁波发射器的信号输出端与所述的功率放大器的信号输入端连接,功率放大器的信号输出端与所述的天线调谐器的信号输入端连接,天线调谐器的信号输出端与所述的发射天线连接,高频电磁波发射器、功率放大器和天线调谐器分别与所述的电源连接。

进一步的,所述的发射天线固定设置在一个测试台面的下方。

进一步的,所述的测试台面下设置有一个第一金属防护罩,所述的第一金属防护罩包围测试台面下方空间,测试台面上设置有一个第二金属防护罩,所述的第二金属防护罩上设置有观察窗。

具体的,本发明中所述的高频电磁波发射器、功率放大器、天线调谐器和发射天线均采用现有技术中的公知方案,有关高频电磁波发射器、功率放大器、天线调谐器和发射天线的公知技术方案,本领域的技术人员均已经了解,在此不再赘述。

本发明的工作原理是:高频电磁波发射器的输出信号由功率放大器放大,放大后的高频电磁波通过发射天线发射到测试台面周围空间,将待测荧光灯管放置测试台面上,由于高频电磁场的激励,整根荧光灯管就会自动点亮,从而检查人员可以对灯管进行漏气和外观检查,检查内容包括是否漏气,是否有荧光粉层缺陷,是否有杂质气体混入等。通过调节功率放大器的输出功率,可以调节荧光灯管的发光亮度,使检查人员可以对整根荧光灯管的外观进行进一步的检查,包括玻璃管的缺陷以及灯管商标的缺陷等等。如果灯管漏气或者混入杂质气体,灯管就无法在高频电磁场中点亮、或者点亮的颜色不正常。

本发明和已有技术相比较,其效果是积极和明显的。本发明利用高频电磁波发射器、功率放大器、天线调谐器和发射天线在测试台面周围产生高频电磁场,激发整根灯管点亮,便于检查整根灯管的漏气和外观缺陷,方便,高效,准确,提高了工作环境的安全性。

附图说明:

图1是本发明中的荧光灯管检查装置的结构示意图。

具体实施方式:

实施例1:

如图1所示,本发明的荧光灯管检查方法,包括一个点亮待测荧光灯管6的过程,其中,在所述的点亮待测荧光灯管6的过程中,利用一个高频电磁场8来激励待测荧光灯管6,在待测荧光灯管6点亮后,通过目视方法检查荧光灯管6工作状态和颜色。

进一步的,利用高频电磁波发射器1、功率放大器2、天线调谐器3、发射天线4和电源5产生一个高频电磁场8,将待测荧光灯管6放置到高频电磁场8中。

进一步的,电源5提供高频电磁波发射器1的工作电流,利用功率放大器2放大高频电磁波发射器1的输出信号,放大后的高频电磁波经过天线调谐器3后由发射天线4产生高频电磁场8。

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