[发明专利]熔丝检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种熔丝检测装置。

背景技术

在现今的集成电路中，常利用一种所谓的熔丝来完成功能选择或是输出电压准位调整等功效。简单来说，就是利用一个或多个的熔丝，并通过烧断而形成断路或是未被烧断而形成短路的状态来产生超过一种的组合，并通过这些组合来设定所要选用的功能或所要产生的输出电压准位。这种熔丝的状态的判断一旦发生错误，就会使整个集成电路运行不正确而产生无法弥补的错误。

以下请参照图1，图1为一种现有的熔丝检测装置100。熔丝检测装置100包括作为开关的晶体管P1及N1、用以建构锁存器的晶体管P2、P3、N2及N3以及反向器INV1所组成，用以检测熔丝FUSE的短路断路的状态。熔丝检测装置100的动作细节则请同时参照图2示出的熔丝检测装置100的波形图。首先，熔丝检测装置100所接收作为电源的参考电压VINT被开启并逐渐上升至稳定状态。同时，控制信号bFPUP被致能(保持逻辑低准位)并导通晶体管P1。此时由晶体管P2、P3、N2及N3建构的锁存器拴锁其所接收到的等于参考电压VINT的信号(逻辑高准位)，并通过反向器INV1输出逻辑低准位的检测信号bFLATS。接着，控制信号bFPUP转态为逻辑高准位(禁能)并关闭晶体管P1，另一控制信号FPUN则致能(转态为逻辑高准位)以导通晶体管N1。在熔丝FUSE未被烧断(短路)的状态下，晶体管P2、P3、N2及N3建构的锁存器改拴锁到接地电压VSS并使检测信号bFLATS转态为逻辑高准位信号。

在此请注意，熔丝检测装置100中的熔丝虽为短路的状态，但代表熔丝FUSE状态的检测信号bFLATS在时间点T1间却呈现代表熔丝FUSE已被烧断的断路状态(逻辑准位)。也就是说，此种现有的熔丝检测装置100是很容易产生误判断的状况的。

发明内容

本发明的目的在于提供一种熔丝检测装置，有效避免熔丝状态判断错误发生的可能。

本发明提出一种熔丝检测装置，包括检测器、校正器以及逻辑运算单元。检测器中包括检测开关模块以及检测锁存器。检测开关模块串接第一参考电压与熔丝间，接收第一及第二控制信号，并依据第一及第二控制信号以及熔丝的短路或断路状态产生初步检测结果。其中，熔丝串接于检测开关模块与第二参考电压间。检测锁存器耦接检测开关模块并接收初步检测结果，依据初步检测结果来存储初步检测结果的电压值或保持其原来所存储的电压值，检测锁存器并依据其所存储的电压值产生校正前检测信号。校正器则包括校正开关模块以及校正锁存器。校正开关模块，串接于该第一参考电压与该第二参考电压间，接收第一及第二控制信号，并依据第一及第二控制信号产生校正结果。校正锁存器耦接校正开关模块并接收校正结果，校正锁存器存储校正结果，并依据校正结果的反向以输出校正信号。逻辑运算单元耦接检测器以及校正器，接收并依据校正前检测信号以及校正信号以进行逻辑运算，并借以产生校正后检测信号。

本发明的有益效果在于，综上所述，本发明利用校正器来提供校正信号以通过逻辑运算单元来遮罩校正前检测信号所产生可能发生误判断的部分。并且，这个校正信号由熔丝检测装置内部自行产生，可以有效避免其他信号的干扰。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图作详细说明如下。

附图说明

图1为一种现有的熔丝检测装置。

图2为熔丝检测装置的波形图。

图3为本发明的一实施例的熔丝检测装置的示意图。

图4为本发明实施例的熔丝检测装置的一实施方式。

图5为图4所示本发明的熔丝检测装置实施方式的波形图。

图6为本发明的另一实施例的熔丝检测装置的示意图。

其中，附图标记说明如下：

100、300、600：熔丝检测装置

321：校正开关模块

322：校正锁存器

330、650：逻辑运算单元

310、620：检测器

320、610：校正器

330：逻辑运算单元

311：检测开关模块

312：检测锁存器

630～640：扩充检测器

660～670：扩充逻辑运算单元

SIG1：初步检测结果

SIG2：校正前检测信号

CR：校正结果

CRS：校正信号

P1～P6、N1～N6：晶体管

INV1、INV2：反向器