[发明专利]信息处理装置及信息处理装置的控制方法无效

专利信息
申请号: 201010501889.3 申请日: 2010-09-28
公开(公告)号: CN102033797A 公开(公告)日: 2011-04-27
发明(设计)人: 羽田学 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F3/06
代理公司: 北京怡丰知识产权代理有限公司 11293 代理人: 迟军
地址: 日本东京都*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 信息处理 装置 控制 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种图像形成装置、图像形成装置的控制方法、以及程序。

背景技术

近年来,由于作为多功能化的结果,程序大小增加,并且用于输出和存储高分辨率和高灰度(high gradation)图像的存储区增大,因此,对于电子照相式图像形成装置,使用诸如硬盘的大容量存储介质变得日益重要。因此,硬盘的重要性显著增长,不断提高的打印速度以及多功能化应用对硬盘的访问,正影响着装置的功能性和实用性。

然而,硬盘一般容易损坏。一旦在硬盘的表面上造成轻微损坏,则该区域变成所谓的“坏扇区”。这种坏扇区可能处于“写中止”状态,并且不能够在其上正常写入数据。坏扇区上可能发生的其他失效(failure)示例包括不能够正常读取。在这种情况下,可能反复地重复读取重试操作,从而导致了数据读取速度的极度下降。

因此,这种坏扇区可能不仅削弱了装置的整体性能,甚至还取决于坏扇区的位置而使图像形成装置无法启动。坏扇区可能在记录介质的制造过程中产生,也可能在操作中受到外部的强烈冲击(例如,磁头与介质的接触)而产生。此外,在一些情况下,坏扇区处于完全不可读和不可写的状态,而在其他情况下,坏扇区尚未变成完全不可读和不可写,但不能通过一次操作正常地读或写,从而如上所述反复地重复重试操作。在这种情况下,坏扇区可能是数据存取速度下降的主要因素。

为了减少坏扇区以及操作失效,硬盘生产商、个人计算机(PC)生产商、以及软件开发公司提出了各种方法。例如,将称为“自身监测分析与报告技术(SMART,Self-Monitoring,Analysis and ReportingTechnology)信息”的设备信息存储在内存或其他存储器中,所述设备信息包括硬盘的备用扇区的数量、OFF(关闭)/ON(开启)次数、通电时间、以及寻道时间。提出了当这些值达到预定的某些值时建议更换硬盘的功能。特别地,在出现坏扇区的情况下作为备选提供的上述备用扇区的数量得到重视,作为更换硬盘的确定参数。

然而,由于确定坏扇区的标准由硬盘生产商自行协议来建立,因此存在以下问题。例如,即使扇区降低了对使用硬盘的图像形成装置至关重要的传输速率,只要在某一时间或某一重试次数内通过重试操作能够读取该扇区,便不将该扇区确定为坏扇区。因此,在这种情况下,没有发生扇区的交替,因此不增加备用扇区的数量。此外,对从市场收集的问题产品的硬盘的分析,显示了大部分硬盘没有坏扇区。此外,实际上,即使使用作为SMART的功能的正常/失效确定功能,大部分硬盘也被确定为正常产品。换句话说,基于生产商自身的规则的SMART信息不够精确,应该针对使用硬盘的图像形成装置建立特有的标准。在这种情况下,当进一步分析硬盘时,很明显在很多情况下,一些扇区的传输速率显著降低。

解决该问题的一种传统技术是:通过监视硬盘的访问时间、在可能引起存取速度降低的异常操作发生之前建议用户更换硬盘的系统(日本特开2004-165741号公报)。另一种传统的技术是:监视硬盘的访问时间、并在存取速度降低为小于预设值的情况下将相关区域设置为使用禁止区域的系统(日本特开2002-116931号公报)。

然而,这些传统的技术没有论述测量硬盘的访问时间的方法、以及检测异常操作的方法。根据上述传统的技术中提及的异常操作检测方法,预设某一值,在标准参数下降到足够低而影响系统的水平之前,不能检测到错误,这就导致了机器可能突然中止的问题。当使用具有更高的数据存取速度的硬盘(例如,由不同的生产商制造的硬盘或不同代的硬盘)替换硬盘时,该问题变得尤其显著。

发明内容

根据本发明的一方面,提供了一种信息存储装置,其包括具有多个数据区的存储单元,该信息处理装置包括:测量单元,其被配置为测量所述存储单元的第一数据区的第一数据存取速度、以及所述存储单元的第二数据区的第二数据存取速度;以及检测单元,其被配置为基于所述第一数据存取速度与所述第二数据存取速度之间的差、检测所述第一数据区中的缺陷。

通过以下参照附图对示例性实施例的详细描述,本发明的其他特征和方面将变得清楚。

附图说明

包含在说明书中并构成说明书的一部分的附图例示了本发明的示例性实施例、特征和方面,并且与文字说明一起用来解释本发明的原理。

图1A是例示图像形成装置的硬件配置的框图,图1B例示了存储传输时间数据的存储单元。

图2A和图2B是例示传输时间测量的流程图。

图3A和图3B是例示失效预测和失效确定的流程图。

图4是例示失效预测的流程图。

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