[发明专利]用于图像读取装置的检查方法和检查装置

说明书

技术领域

本发明涉及用于图像读取装置的检查方法，更特别地，涉及用于执行对读取彩色图像的读取装置中的颜色未对准(colormisregistration)的检查和评价的检查装置。

背景技术

常规上，在用于读取原稿表面上的图像信息的平台型图像读取装置(图像扫描仪)中，为了简化该装置的结构，已存在集成滑架(integrated-carriage)扫描类型，其中，反射镜、成像光学系统和线传感器等被集成到一个单元中以扫描原稿表面。

在常规的集成滑架扫描类型的图像读取装置中，从照明光源发射的光束照亮放置在原稿台上的原稿。当在原稿上反射的光束借助多个反射镜在滑架中被反射时，光束的光路被偏转。光束经由成像光学系统被成像在线传感器的表面上。然后，滑架通过副扫描电机相对于原稿表面在副扫描方向上移动，以读取原稿的图像信息。线传感器具有这样的配置：即，在主扫描方向上布置多个受光元件。

图9是图像读取光学系统的基本配置的说明图。用于读取相应颜色R(红色)、G(绿色)和B(蓝色)的线传感器85R、85G和85B经由成像光学系统84分别读取原稿表面上的读取范围87R、87G和87B的各条图像信息。滑架相对于原稿的表面移动，因此可在给定的时间间隔之后通过不同颜色光束读取原稿表面上的同一点上的图像信息。在成像光学系统84由具有旋转对称表面的共轴透镜系统形成的情况下，由于透镜材料的特性而出现纵向色差和横向色差。因此，与用作基准的线传感器85G相比，在形成于线传感器85B和85R上的线图像中出现散焦或位置位移。因此，当各颜色的图像重合时，得到的图像是颜色模糊或颜色未对准明显的图像。

在其中在成像光学系统的像面侧设置变形表面的使用具有旋转非对称表面的共轴透镜系统的成像光学系统中(日本专利申请公开No.2000-171705)，除了由于透镜材料的特性导致的色差以外，可能由于旋转非对称表面的制造误差而出现副扫描方向上的畸变。日本专利申请公开No.2002-335375公开了所谓的离轴光学系统。即，在非共轴光学系统中，引入基准轴的概念，并且，将构成表面制成非对称非球面表面，以由此校正像差。但是，如果构成表面具有制造误差或位置误差，则由于像面上的在主扫描方向上的(主扫描截面中的)或在副扫描方向上的(副扫描截面中的)焦点位置位移，出现畸变，这导致焦深的减小和倍率的偏离。因此，读取线弯曲。特别地，非常可能出现副扫描方向上的畸变。当通过颜色R、G和B的线传感器读取图像信息时，如图10所示，线传感器上位于副扫描方向的外侧的成像位置由于该畸变而在副扫描方向上位移，该位移从光轴向着线传感器的两端增大。结果，在重合的图像中出现副扫描方向上的颜色未对准。

为了测量这种颜色未对准量，提出以下的检查装置。即，在装置的主体的原稿表面上放置其中在副扫描方向上交替打印有白条和黑条的测试图，并且读取该测试图，由此执行颜色未对准量的计算和检查(参见日本专利申请公开No.2000-332958)。

此外，为了基于畸变量计算颜色未对准量，提出以下的方法。即，在与原稿表面的位置等同的位置处，设置用于检测副扫描方向上的读取位置位移的图，该图包含三角图或者在主扫描方向和副扫描方向之间具有不同形状的图，并且读取该图以获得用于计算畸变量的信号，由此计算颜色未对准量(参见日本专利申请公开No.2008-078877)。

日本专利申请公开No.2000-332958具有以下的问题。即，安装有成像光学系统的读取单元需要在副扫描方向上移动(以下，称为扫描操作)，以便检测副扫描方向上的颜色未对准量，因此不能单独地检查成像光学系统，这意味着在产品的最终处理之前不能执行检查。此外，作为读取单元的替代，通过使测试图执行扫描操作，可以单独地检查成像光学系统，但是，存在检查装置变得大型化和复杂化的问题，以及由于扫描操作导致出现检查时间效率低下的问题。

在日本专利申请公开No.2008-078877中，通过使用用于检测副扫描方向上的读取位置位移的图来计算畸变量，该图包含三角图或者在主扫描方向和副扫描方向之间具有不同形状的图。但是，畸变量是基于单一的图计算的，因此，日本专利申请公开No.2008-078877由于采样数量少而具有测量精度的问题。

发明内容

考虑到上述的问题，本发明的一个目的是，提供用于图像读取装置的检查方法和检查装置，所述检查方法和检查装置能够以高精度执行颜色未对准测量，同时避免检查装置的大型化和复杂化，并且还避免可引起效率低下的由于扫描操作导致的检查时间的增加。