[发明专利]单板测试方法及装置

权利要求书

1.一种单板测试方法，其特征在于，包括：

设置需对受测单板进行通断电测试的次数以及每次测试的通电时长和断电时长；

在所述受测单板的通断电测试的过程中，记录并显示所述单板已通断电测试次数以及所述单板测试成功次数。

2.根据权利要求1所述的单板测试方法，其特征在于，当所述受测单板出现故障时，保存所述受测单板的故障信息。

3.根据权利要求2所述的单板测试方法，其特征在于，所述故障信息至少包括以下一种：

二倍速率同步动态随机存储器DDR检测故障、现场可编程门阵列FPGA下载故障、锁相环的配置故障、单板启动故障、业务测试故障。

4.根据权利要求3所述的单板测试方法，其特征在于，在记录并显示所述受测单板已通断电测试次数以及所述受测单板测试成功次数之后还包括：

根据所述受测单板已通断电测试次数和所述受测单板测试成功次数是否一致，判断所述受测单板是否出现故障；

当所述受测单板已通断电测试次数和所述受测单板测试成功次数不一致时，根据保存的所述故障信息确定所述受测单板的故障原因。

5.根据权利要求1至4任一项所述的单板测试方法，其特征在于，所述受测单板为多块，根据微型电信计算架构Micro TCA的上电方式给所述受测单板供电。

6.一种单板测试装置，其特征在于，包括：计算机和测试工装，其中

所述计算机，与所述测试工装相连，用于设置需对受测单板进行通断电测试的次数以及每次测试的通电时长和断电时长；

所述测试工装，与所述受测单板相连，包括：微控制单元MCU和数码管，其中

所述数码管，用于显示所述受测单板已通断电测试次数以及所述受测单板测试成功次数；

所述MCU，用于控制所述数码管的显示和测试故障的统计和记录。

7.根据权利要求6所述的单板测试装置，其特征在于，所述测试工装还包括：

测试次数寄存器，用于保存对所述受测单板进行通断电测试次数，所述数码管根据所述测试次数寄存器所保存的内容显示所述受测单板通断电测试次数；

测试成功次数寄存器，用于保存所述受测单板测试成功次数，所述数码管根据测试成功次数寄存器所保存的内容显示所述受测单板测试成功次数。

8.根据权利要求6所述的单板测试装置，其特征在于，所述测试工装还包括：

故障状态寄存器，用于保存测试过程中所述受测单板的状态，当所述受测单板出现故障时，将所述故障状态寄存器的对应比特位置1，当所述故障消失时，将所述比特位置0；

故障原因寄存器，用于保存测试过程中发生故障的受测单板的故障原因，当所述受测单板已通断电测试次数和所述受测单板测试成功次数不一致时，通过查询所述故障原因寄存器确定所述受测单板的故障原因；

故障清除寄存器，用于在测试开始前清除所述故障原因寄存器和所述故障状态寄存器所保存的内容。

9.根据权利要求8所述的单板测试装置，其特征在于，所述故障原因寄存器所保存的故障原因至少为以下一种：

二倍速率同步动态随机存储器DDR检测故障、现场可编程门阵列FPGA下载故障、锁相环的配置故障、单板启动故障、业务测试故障。

10.根据权利要求9所述的单板测试装置，其特征在于，所述测试工装还包括：

继电器/MOS管，通过电源输出端口与所述受测单板相连，用于控制并输出供电电源至所述受测单板。