[发明专利]识别在移动终端界面上输入的操作轨迹的方法和系统有效
申请号: | 201010507743.X | 申请日: | 2010-09-30 |
公开(公告)号: | CN101968714A | 公开(公告)日: | 2011-02-09 |
发明(设计)人: | 马宇驰 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/048 | 分类号: | G06F3/048;G06F3/041 |
代理公司: | 北京市浩天知识产权代理事务所 11276 | 代理人: | 刘云贵;刘海英 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 识别 移动 终端 界面 输入 操作 轨迹 方法 系统 | ||
技术领域
本发明涉及到通信领域,特别涉及一种识别在移动终端界面上输入的操作轨迹的方法和系统。
背景技术
随着移动通讯技术的发展和3G网络应用的普及,手机等移动终端的应用已经更趋向于多样化,移动终端设备制造商之间的竞争越发的激烈。消费者选择移动终端设备时不再仅仅关注于移动终端设备的功能,而更注重于移动终端设备的感官体验。由于大触屏的普及,充分利用手指以及触摸笔操作的灵活性成为了移动终端设备发展的趋势。手指或触摸笔在触屏上的操作除了点击外,还可以进行任意有规律的运动,如若能识别这些手指或触摸笔运动的轨迹,形成一套新的扩展指令集,应用于绘图,游戏或界面操作以及其他程序中,将大大丰富用户的操作方式和便捷程度。传统移动终端的系统只针对一般的手指点击,滑动进行了处理,除了手写输入法外,忽视了手指或触摸笔的其他运动的灵便性。
传统的触敏屏幕(touch-sensitive screen)可以感应用户手指或触摸笔对屏幕的按压,碰触等。通过这些操作点击屏幕上的图标或文字就能实现对应的操作,从而摆脱了键盘和鼠标,使人机交互更为直截了当。当今的触敏屏幕主要分为电容式触屏、电阻式触屏和表面声波触屏三类。触敏屏由触敏检测部件和触敏屏控制器组成;触敏检测部件用于检测用户触摸位置,当检测后送触敏屏控制器;触摸屏控制器接收屏幕触点信息,并将它转换成触点坐标,通过此过程完成手指或触摸笔操作到程序可用坐标信息的转换。获取的坐标信息送给处理器后,由设备的软件系统对其进行处理,将坐标和运动的关系转化为有意义的事件,提供操作系统或应用程序使用。
目前带有触敏屏幕的移动终端中的基本手指或触摸笔操作指令大致有基本的轨迹操作有:按下和松开手指或触摸笔,单击或双击手指或触摸笔,移动或拖动手指或触摸笔。这些基本指令已经充分应用于带有触敏屏幕的移动终端设备中,给用户带来操作的方便。然而,基本指令集是固化在移动终端设备中,数量比较少,导致用户体验质量差;此外,移动终端设备在识别比较复杂的操作轨迹时,需要各个程序单独执行,比较复杂。
发明内容
为了解决当前基本指令信息的不足,简化操作轨迹的识别,本发明提供了一种识别在移动终端界面上输入的操作轨迹的方法和系统,技术方案如下:
一种识别在移动终端界面上输入的操作轨迹的方法,包括:
获取操作轨迹的采样点的坐标信息;
判断所述采样点的坐标信息是否符合预设的轨迹函数;
如果判断结果为是,则保存操作轨迹类型信息,将所述操作轨迹信息作为操作指令。
进一步地,所述操作轨迹类型信息包括以下轨迹之一:圆形轨迹、椭圆形轨迹、直线轨迹和抛物线轨迹;
相应地,所述方法还包括:
根据不同的所述操作轨迹类型信息执行与所述不同的所述操作轨迹类型信息对应的操作。
进一步地,在判断所述采样点的坐标信息是否符合预设的轨迹函数的结果为是后,还包括:
获取操作轨迹的采样点的当前系统时间,根据所述采样点的坐标信息和当前系统时间,获取所述操作轨迹的运动参数信息;
相应地,将所述操作轨迹信息作为操作指令,包括:
将所述操作轨迹信息和所述运动参数信息作为操作指令保存。
进一步地,所述运动参数信息包括:运动时间、运动速度属性和运动距离;
相应地,所述根据所述采样点的坐标信息和当前系统时间,获取所述操作轨迹的运动参数信息,包括:
获取每个采样点的系统时间,对所述系统时间进行累加得到第一累加值,所述第一累加值为所述操作轨迹的运动时间;
在确认每两个采样点间的时间间隔保持一致时,计算每个采样点之间的绝对距离,得到每个采样点之间的操作移动速度;通过判断相邻采样点之间的速度关系,获取操作轨迹的运动速度属性;
对相邻两个采样点之间的绝对距离进行累加,得到第二累加值,该第二累加值为操作轨迹的运动距离。
进一步地,所述采样点的坐标信息包括:采样点的X坐标和Y坐标;相应地,所述判断所述采样点的坐标信息是否符合预设的轨迹函数,包括:
设容错值为σ,采样点X坐标的容错范围是(X-σ,X+σ),Y坐标的容错范围是(Y-σ,Y+σ),则容错矩形为{(X-σ,X+σ),(Y-σ,Y+σ)};
将采样点的坐标信息代入轨迹函数,此时计算误差为γ,如果采样点中出现若干个点偏离γ范围但处于所述容错矩形内,则该采样点满足所述轨迹函数;如果采样点中出现若干个点偏离γ范围但不处于所述容错矩形内,则采样点不满足所述轨迹函数;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中兴通讯股份有限公司,未经中兴通讯股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010507743.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。