[发明专利]光照强度检测系统及方法有效
申请号: | 201010510000.8 | 申请日: | 2010-10-15 |
公开(公告)号: | CN102445269A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
发明(设计)人: | 张旨光;薛晓光;袁忠奎;蒋理 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01J1/00 | 分类号: | G01J1/00;G01M11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光照强度 检测 系统 方法 | ||
1.一种光照强度检测系统,运行于计算机中,该计算机包括存储影像图片的存储装置以及显示装置,其特征在于,该系统包括:
创建模块,用于创建颜色条,并设定各灰度值在颜色条中所对应的颜色;
读取模块,用于读取存储装置中的影像图片;
判断模块,用于判断所读取的影像图片是否为灰度图片;
所述的读取模块,还用于当所读取的影像图片是灰度图片时,读取该灰度图片的位图数据,该位图数据包括该灰度图片的像素点总数以及各像素点所对应的灰度值,所述的灰度值表示光照强度;
绘制模块,用于记录各灰度值所对应的像素点的个数,并绘各灰度值与各灰度值所对应的像素点个数的关系曲线图;
所述的绘制模块,还用于重新绘制该灰度图片,根据该灰度图片上各像素点的灰度值在颜色条中所对应的颜色,在对应的像素点上使用对应的颜色进行着色;
显示模块,在显示装置上显示该关系曲线图以及该重新着色的灰度图片。
2.如权利要求1所述的光照强度检测系统,其特征在于,该系统还包括:
计算模块,用于从位图数据中得到最大灰度值以及最小灰度值;
所述的计算模块,还用于根据位图数据计算该灰度图片的平均值,所述的平均灰度值等于各像素所对应的灰度值的总和与该灰度图片的像素点总数的商;及
所述显示模块,还用于在显示装置上显示所述得到的最大灰度值、最小灰度值以及平均灰度值。
3.如权利要求1所述的光照强度检测系统,其特征在于,所述绘制模块通过下述步骤绘制各灰度值与各灰度值所对应的像素点个数的关系曲线图:
根据预设的原点坐标,绘制该关系曲线图的坐标原点;
绘制X轴与Y轴,以及X轴与Y轴的刻度;
根据该记录的各灰度值所对应的像素点的个数,以灰度值作为X轴,以各灰度值对应的像素点个数为Y轴,在所绘制的坐标系上绘制该关系曲线图。
4.如权利要求1所述的光照强度检测系统,其特征在于,所述的判断模块根据该读取的影像图片的扩展名是否为“bmp”来判断该影像图片是否为灰度图片。
5.一种光照强度检测方法,应用于计算机中,该计算机包括存储影像图片的存储装置以及显示装置,其特征在于,该方法包括:
创建颜色条,并设定各灰度值在颜色条中所对应的颜色;
读取存储装置中的影像图片;
判断所读取的影像图片是否为灰度图片,当所读取的影像图片不是灰度图片时,返回读取存储装置中的影像图片的步骤;
当所读取的影像图片是灰度图片时,读取该灰度图片的位图数据,该位图数据包括该灰度图片的像素点总数以及各像素点所对应的灰度值,所述的灰度值表示光照强度;
记录各灰度值所对应的像素点的个数,并绘制各灰度值与各灰度值对应的像素点个数的关系曲线图;
重新绘制该灰度图片,根据该灰度图片上各像素点的灰度值在颜色条中所对应的颜色,在对应的像素点上使用对应的颜色进行着色;
在显示装置上显示该关系曲线图以及该重新着色的灰度图片。
6.如权利要求5所述的光照强度检测方法,其特征在于,该方法还包括步骤:
从位图数据中得到最大灰度值以及最小灰度值;
根据位图数据计算该灰度图片的平均值,所述的平均灰度值等于各像素所对应的灰度值的总和与该灰度图片的像素点总数的商;及
在显示装置上显示所述得到的最大灰度值、最小灰度值以及平均灰度值。
7.如权利要求5所述的光照强度检测方法,其特征在于,绘制各灰度值与各灰度值对应的像素点个数的关系曲线图包括步骤:
根据预设的原点坐标,绘制该关系曲线图的坐标原点;
绘制X轴与Y轴,以及X轴与Y轴的刻度;
根据该记录的各灰度值所对应的像素点的个数,以灰度值作为X轴,以各灰度值对应的像素点个数为Y轴,在所绘制的坐标系上绘制该关系曲线图。
8.如权利要求5所述的光照强度检测方法,其特征在于,所述判断所读取的影像图片是否为灰度图片是根据该读取的影像图片的扩展名是否为“bmp”来判断的。
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