[发明专利]发光元件分类装置以及发光元件检测分选机

说明书

技术领域

本发明涉及用于根据检测结果将发光元件按等级进行分类的发光元件检测分选机。

背景技术

发光元件(Luminous element)是利用将电转换为光的半导体的元件，指的是LED(Light-emitting Diode：发光二极管)、半导体激光器(Semiconductor laser)等，广泛使用于汽车仪表类的显示元件、光通信用光源等各种电子仪器的显示用灯、数字显示装置、计算机的卡读取器、背光源等各种领域中。这种发光元件是通过各种工序制造而成，该工序包括检测发光元件所具备的性能的工序、根据检测结果按等级进行分类的工序等。

通过上述的工序排除不能正常工作的发光元件的同时，将正常工作的发光元件根据其性能按等级进行分类而出厂，如果这些工序不能正常实现，则即便是正常工作的发光元件，也可能被废弃或者分类为与发光元件实际具备的性能不同的等级而出厂。由此产生的损失等会提高发光元件的制造成本，降低对发光元件具备的性能的信赖度，有可能导致减弱产品竞争力的结果。因此，需要开发出一种如下的装置，既能够提高对于发光元件具备的性能的信赖度，又能够在短时间内将更多的发光元件按等级分类而降低发光元件的制造单价。

发明内容

本发明的是为了解决上述问题而做出的，其目的在于提供一种能够提高对于发光元件具备的性能的信赖度、且能够在短时间内将更多的发光元件按等级进行分类的发光元件分类装置以及包括该分类装置的发光元件检测分选机。

本发明涉及的发光元件分类装置包括收纳单元和分类单元，其中，上述收纳单元包括：第一收纳机构，设有用于收纳检测后的发光元件的多个第一收纳部件；第二收纳机构，设有用于收纳检测后的发光元件的多个第二收纳部件；以及收纳本体，可开闭地设有上述第一收纳机构和上述第二收纳机构；以及分类单元，根据检测后的发光元件所具备的等级进行分类，使得检测后的发光元件被收纳到上述多个第一收纳部件和上述多个第二收纳部件中的任一个。

本发明涉及的发光元件检测分选机包括：供给部，供给要检测的发光元件；检测部，设有用于检测发光元件的检测单元，该检测部包括：插座，用于放置发光元件；支撑部件，设置有多个上述插座；以及第一驱动单元，旋转上述支撑部件，使上述多个插座依次位于检测发光元件的检测位置、对检测后的发光元件进行分类的分类位置和放置要检测的发光元件的安放位置；拾取部，设置在上述供给部和上述检测部之间，将要检测的发光元件从上述供给部输送至位于上述安放位置的插座；上述权利要求1至13中任一项所述的发光元件分类装置，用于将检测后的发光元件按等级进行分类；以及移送部，将检测后的发光元件从位于上述分类位置的插座输送至上述发光元件分类装置。

根据本发明，能够提高对发光元件具备的性能的信赖度，在短时间能够将更多的发光元件按等级进行分类，从而得到减少发光元件制造单价的效果。

附图说明

图1是表示包含本发明涉及的发光元件分类装置的发光元件检测分选机的概略结构的立体图；

图2是表示本发明涉及的发光元件分类装置的概略结构的立体图；

图3是表示本发明涉及的收纳单元的概略结构的立体图；

图4是表示图3中的第二收纳机构独立开放状态的概略立体图；

图5是表示本发明的变形实施例涉及的收纳单元的概略结构的立体图；

图6是表示本发明涉及的分类机构的概略结构的仰视立体图；

图7是表示本发明涉及的传送构件的概略结构的俯视图；

图8以及图9是概略表示本发明涉及的分类机构旋转(pivot)移动状态的工作状态图；

图10是概略表示本发明涉及的发光元件检测分选机的立体图；

图11是概略表示本发明涉及的发光元件检测分选机中的供给部、拾取部、检测部以及移送部的立体图；

图12是表示本发明涉及的发光元件检测分选机中的安放位置、检测位置以及分类位置的示意图；

图13是概略表示本发明涉及的发光元件检测分选机中的接触单元的立体图。

具体实施方式

下面，参照附图详细说明本发明涉及的发光元件分类装置的优选实施例。

参照图1以及图2，本发明涉及的发光元件分类装置10包括收纳单元1以及分类单元2。

参照图1至图3，经检测的发光元件按等级分类后，可以被收纳在上述收纳单元1中。上述收纳单元1可以包括第一收纳部件11、第二收纳部件12、第一收纳机构13、第二收纳机构14以及收纳本体15。