[发明专利]一种用于光学元件检测的三轴旋转工作平台无效
申请号: | 201010515089.7 | 申请日: | 2010-10-21 |
公开(公告)号: | CN101963483A | 公开(公告)日: | 2011-02-02 |
发明(设计)人: | 郭隐彪;姜晨;潘日;唐旎;王振忠 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00;G01B5/008;G01B5/20;B25H1/00;B25H1/14 |
代理公司: | 厦门南强之路专利事务所 35200 | 代理人: | 马应森 |
地址: | 361005 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 光学 元件 检测 旋转 工作 平台 | ||
技术领域
本发明涉及一种光学元件检测工具,尤其是涉及一种用于光学元件检测的三轴旋转工作平台。
背景技术
作为一种重要的检测工具,三坐标测量机广泛应用在机械、汽车、航空、军工等行业中,其检测对象可包括箱体、机架、齿轮、凸轮、蜗轮、蜗杆、叶片、曲线、曲面、各种工具原型、机器等中小型配件,可以对工件的尺寸、形状和形位公差进行精密检测,从而完成零件检测、外形测量、过程控制等任务。其结构是在三个相互垂直的方向上设有导向机构、测长元件、数显装置,有一个能够放置工件的工作台,测量探头可以以手动或机动方式移动到被测点上,由读数设备和数显装置把被测点的坐标值显示出来的一种测量设备。通常,三坐标测量机的测量探头固定在移动导轨的机构上,无法调整探测方向,对于外形各异的光学元件,很容易出现检测盲区,难以完成工件全部形面的完整检测(如公开号为CN201348477的实用新型专利“三坐标测量机”)。一般方法是通过改变测量探头的探测方向来对盲区进行测量,但重新装夹测量探头降低了检测精度。
发明内容
本发明的目的在于针对现有三坐标测量机难以检测形状各异的光学元件等缺点,提供一种可以三轴旋转,配合三坐标测量机实现对光学元件形面的精确测量的用于光学元件检测的三轴旋转工作平台。
本发明设有工作台、底座、工作台倾角调节机构和工作台紧固机构。
所述工作台的上表面是工作台平面,用于放置被测工件,工作台的下表面安装在底座上的凹槽上,工作台的下表面可以在凹槽内自由滑动;底座的凹槽内设有2个油槽,用于存储工作台旋转所需的润滑油;所述工作台倾角调节机构设有6个定位螺栓,所述6个定位螺栓包括一对X轴旋转定位螺栓、一对Y轴旋转定位螺栓和一对Z轴旋转定位螺栓,一对X轴旋转定位螺栓、一对Y轴旋转定位螺栓和一对Z轴旋转定位螺栓分别固定在底座对应位置的螺孔上,顶住工作台下部球体的凹槽,以一进一退的方式推动工作台平面绕X、Y、Z轴向旋转;所述工作台紧固机构设有连杆、连杆弹簧、横向紧固螺杆、纵向紧固螺杆、紧固楔块和挡板;连杆穿过工作台中心孔,连杆下端通过弹簧连接在底座上,连杆上端设有紧固楔块;两个横向紧固螺杆设于紧固楔块侧端,通过调节它们可以推动紧固楔块来对工作台进行紧固微调操作;纵向紧固螺杆隔着挡板旋转进入设于紧固楔块顶部的螺孔内,通过旋转纵向紧固螺杆可以锁紧工作台。
所述工作台可采用半球体形工作台,所述工作台的下表面为球状;所述凹槽可采用球形凹槽。
当使用三坐标测量机测量复杂形面的光学元件时,通过底座上的定位螺栓的配合可以推动并限制旋转工作台面的倾斜角度,从而使工件的测量盲区直接面对测量探头,这样,三坐标测量机的测量探头可以不用改变安装位置,即能完成对工件盲区的测量。由于没有重新装夹,因此提高了测量精度。当倾斜角度调节完毕,通过位于工作台中心的纵向紧固螺杆可以锁紧工作台,如果工作台上固定有被测工件无法调节时,可以通过横向紧固螺杆,推动紧固楔块锁紧工作台。
本发明的结构简单,由工作台、底座及附属机构组成;安装方便,可直接作为三坐标测量机的工作平台,也可以安装在三坐标测量机已有的工作台上;操作简单,检测时,通过手动调节各个定位螺栓即可实现工作台平面的旋转,通过手动调节纵向、横向紧固螺栓可以快速紧固工作台。读数方便,通过电子水平仪可以读取倾斜度,由倾斜度反求出未旋转时测量点的实际坐标值。
附图说明
图1为本发明实施例的结构组成俯视示意图。
图2为本发明实施例的结构组成左视示意图。
图3为本发明实施例的结构组成右视示意图。
图4为本发明实施例的结构组成主视示意图。
以下给出图1~4中的各主要部件的代号:1.底座,2.工作台,3.Y轴旋转定位螺栓,4.挡板,5.横向紧固螺杆,6.X轴旋转定位螺栓,7.Z轴旋转定位螺栓,8.连杆,9.油槽,10.紧固楔块,11.纵向紧固螺杆,12.连杆弹簧。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的技术方案作进一步阐述。
如图1~4所示,本发明实施例外设有工作台2、底座1、工作台倾角调节机构和工作台紧固机构。
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