[发明专利]用于测量卷对卷装置的基材的传送速度的装置及其方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种测量传送速度的装置及其方法，尤指一种用于测量卷对卷装置的软性基材的传送速度的装置及其方法。

背景技术

目前卷对卷装置已成为软性电子生产制程的首选。所谓卷对卷装置是指采用以滚轮传输为架构进行软性基材收放、输送及辅助加工等相关制程。卷对卷装置使用滚轮来控制软性基材的移动，并维持稳定的传输速度，以进行精密加工作业。在卷对卷装置的传动系统中需安装传感器，以进行传动时各项参数控制。

现有的卷对卷装置的软性基材的传送速度量测是经由滚轮与软性基材的磨擦旋转，再藉由伺服马达的编码器计算马达的转动速度与其转动圈数，间接可得到软性基材的传送速度，但常因为滚轮与软性基材之间发生滑差现象、包覆在收卷材料里面的制程结构会影响卷料真圆度、收放料的卷径随着材料多寡不断在改变等，导致软性基材产生皱折或折迭现象，并造成软性基材于传送过程中的传送速度不断地改变，因此无法量测到软性基材真正的传送速度值。

而目前有许多测量移动物的移动速度的装置及方法，该些装置及方法不但复杂度高且量测条件严苛，重要的是尚无测量软性基材的传送速度的装置及方法，导致目前仍须使用价值昂贵的都卜勒速度传感器做量测。

有鉴于上述问题，本发明提供一种低成本的测量装置及方法，本发明主要透过低成本的光学感测模块进行软性基材速度量测。

发明内容

本发明的目的，是在于提供一种用于测量卷对卷装置的基材的传送速度的装置及其方法，其主要应用一般光学感测模块作为本发明的该光学感测模块，用以侦测基材的传送速度，该光学感测模块具有低成本，可有效降低整体成本。

本发明的目的，是在于提供一种用于测量卷对卷装置的基材传送速度的装置及其方法，该光学感测模块可侦测一卷对卷装置的一滚轮上的该基材，可避免该基材于滚动过程中产生振动，有效提升测量时的准确度。

为了达到上述的目的，本发明是一种测量传送速度的装置，该测量传送速度的装置是用于测量设置于一卷对卷装置的一基材的传送速度，该测量传送速度的装置是包含：

一光学感测模块，发射一光源至正在移动的该基材表面，并接收从该基材反射回来的一第一反射光及一第二反射光，且依据该第一反射光及该第二反射光分别产生一第一影像及一第二影像，计算该第一影像与该第二影像之间的一变化量，依据该变化量得到一相对位移量讯号，转换该相对位移量讯号为一相对正交脉波讯号；

一处理模块，接收并运算分析该相对正交脉波讯号；以及

一监控模块，接收并统计分析已运算分析的该相对正交脉波讯号，得到该基材传送速度。

本发明中，其中该卷对卷装置包含二滚轮，该基材设于该二滚轮上，该光源照射于该滚轮上的该基材。

本发明中，其中该基材为织品、塑料或其它软性材质。

本发明中，其中该光学感测模块包含：

一雷射二极管，发射该光源，该光源为雷射光源，该雷射二极管为垂直共振腔面射型；

一第一透镜，集中该光源至该基材上；

一第二透镜，集中该第一反射光及该第二反射光；以及

一光传感器，接收该第一反射光及该第二反射光，并分别产生该第一影像及该第二影像，计算该第一影像与该第二影像间的该变化量，依据该变化量得到该相对位移量讯号，转换该相对位移量讯号为该相对正交脉波讯号，传送该相对正交脉波讯号至该处理模块。

本发明中，更包含：

二串行外围接口，分别连接该光学感测模块与该处理模块及该处理模块与该监控模块。

本发明中，更包含：

一控制模块，电性连接该监控模块，并产生一控制讯号，该控制讯号是依据该监控模块所产生的该基材传送速度；及

一驱动模块，连接该卷对卷装置，并依据该控制讯号，调变该卷对卷装置的该些滚轮的卷动速度。

本发明中，其中该第一影像与该第二影像间的变化量为同一图案在该第一与第二影像的位移变化量。

一种测量传送速度的方法，该测量传送速度的方法是用于测量设置于一卷对卷装置的一基材的传送速度，该方法是包含：

发射一光源至正在移动的该基材表面，并接收从该基材反射回来的一第一反射光及一第二反射光；

依据该第一反射光及该第二反射光分别产生一第一影像及一第二影像，计算该第一影像与该第二影像之间的一变化量，依据该变化量得到一相对位移量讯号，转换该相对位移量讯号为一相对正交脉波讯号；

运算分析该相对正交脉波讯号；以及

统计分析已运算分析的该相对正交脉波讯号，得到该基材传送速度。