[发明专利]电路装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种电路装置，尤指一种具有内部测试功能的电路装置。

背景技术

在量测芯片时，有时候常会需要针对芯片内部的某些功能进行分析，但因内部运算的功能并未定义在芯片的规格内，所以使用正常测量方法时并无法从芯片的脚位量测到所需要的内部功能。

发明内容

有鉴于此，本发明揭示一种具有内部测试功能的电路装置，当某个特定范围内的电压被施加到电路装置的输入端时，电路装置即会启动内部测试功能。此时电路装置进入测试模式，并从输出端送出测试结果，以提供测试者得知电路装置内部的特定参数。

依据一实施例，本发明的电路装置包括一输入端、一输出端、一致能模块、一第一功能模块及一第二功能模块。致能模块耦接于输入端，经由输入端接收一输入电压，并于输入电压介于一第一电压范围时输出一致能信号。第一功能模块耦接于致能模块与输出端，根据致能信号执行一测试模式，以及送出一测试结果至输出端。第二功能模块耦接于输入端，经由输入端接收输入电压，并于输入电压介于一第二电压范围时执行一般模式。

依据另一实施例，本发明的电路装置包括一输入端、多个输出端、一致能模块及一功能模块。致能模块耦接于输入端，经由输入端接收一输入电压，并于输入电压分别介于相异的电压范围时，分别输出相异的致能信号。功能模块耦接于致能模块与多个输出端，根据相异的致能信号分别对应执行相异的测试模式，以及对应送出相异的测试结果至对应的输出端。

依据又一实施例，本发明的致能模块包括多个反向器与一编码器，其中，多个反向器接收一输入电压，在输入电压介于一第一电压范围时，输出第一组逻辑电平。编码器耦接于多个反向器与一功能模块，接收第一组逻辑电平，以及输出一致能信号至功能模块。

综上所述，本发明前述各实施例所揭示的电路装置，其在一个特定范围之外的电压被施加到输入端时，执行一般模式。另外，在该特定范围之内的电压被施加到相同的输入端时，电路装置执行测试模式，并且从输出端送出测试结果。如此，测试者即可以针对电路装置内部的某些功能进行测试与分析，以解决在正常测量时无法从电路装置量测到所需要的内部功能的问题。

附图说明

图1为本发明第一实施例的电路装置功能方块示意图；

图2为本发明第一实施例的致能模块电路功能示意图；

图3为第一实施例相关图表；

图4为本发明第二实施例的电路装置功能方块示意图；

图5为本发明第二实施例的致能模块电路功能示意图；

图6为第二实施例相关图表；及

图7至图11为本发明各种相异结构的致能模块电路功能示意图。

【主要元件附图标记说明】

本发明：

电路装置1

输入端IN

输出端OUT

致能模块10、20、3、4、5、6、7

第一功能模块12

第二功能模块14

输入接脚P0

输出接脚P1～Pn

禁能信号S1’

输入电压Vin

致能信号S1、S11～S1n

测试结果S2、S21～S2n

操作状态信号S3

反向器101、102、201、202、203、204、30、40、50、60、70

编码器104、206、32、42、52、62、72

逻辑电平TK1、TK2、TK3、TK4

输出端OUT1～OUTn

功能模块22

第一输出端Q1

第二输出端Q2

异或非门(XNOR)2062

异或门(XOR)2064

具体实施方式

参考图1，图1为本发明第一实施例的电路装置功能方块示意图。电路装置1包括一输入端IN、一输出端OUT、一致能模块10、一第一功能模块12及一第二功能模块14。电路装置1可以为一电路芯片(Chip)的型态，也可以为一集成电路(IC Package)的型态，其中，当电路装置1为集成电路的型态时，输入端IN即为集成电路的一输入接脚P0，输出端OUT即为集成电路的一输出接脚P1。