[发明专利]一种固体物质的稳定谱特征提取方法有效

专利信息
申请号: 201010520743.3 申请日: 2010-10-27
公开(公告)号: CN101976337A 公开(公告)日: 2011-02-16
发明(设计)人: 张天序;颜露新;郑珍珠;杨卫东;方正;孙协昌;张伟;刘翔燕;边小勇;徐利成;王娟;付平;高慧杰 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G06K9/46 分类号: G06K9/46
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 固体 物质 稳定 特征 提取 方法
【权利要求书】:

1.一种固体物质的稳定谱特征提取方法,按照以下步骤完成:

(1)对谱数据进行多尺度分解,获得不同尺度下的概貌;

(2)分别对各尺度下的概貌划分区域,对各区域进行基于形状走势的局部二进制编码;

(3)分别依据各区域的二进制编码生成区域特征直方图,同一尺度下的所有区域特征直方图顺序连接构成空间增强直方图;

(4)对步骤(3)得到的不同尺度的空间增强直方图加权计算获得谱特征矢量。

2.根据权利要求1所述的谱特征提取方法,其特征在于,所述步骤(2)按照如下方式进行局部二进制编码:利用滑动窗口逐元素遍历区域内谱数据矢量中的所有元素,将滑动窗口内的当前中心元素依次和其邻域元素相减,获得的差值与容忍参数比较,根据比较结果作二进制赋值。

3.根据权利要求2所述的谱特征提取方法,其特征在于,所述容忍参数为某一尺度的概貌中谱数据的最大和最小元素值之差与容忍系数的乘积,容忍系数取值为1~5%。

4.根据权利要求1所述的谱指纹特征提取方法,其特征在于,所述步骤(3)生成区域特征直方图的方式为:统计各区域的均衡模式出现频率得到各区域的特征直方图,均衡模式定义为跳变次数小于或等于跳变次数阈值的局部二进制编码。

5.根据权利要求4所述的谱指纹特征提取方法,其特征在于,所述跳变次数阈值为2。

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