[发明专利]像素缺陷校正器件、成像设备、像素缺陷校正方法和程序

权利要求书

1.一种像素缺陷校正器件，包括：

缺陷确定部件，确定图像的感兴趣像素是否为图像的缺陷，在所述图像中以二维方式排列每一个均具有像素值的多个像素；

梯度检测部件，至少基于处理区域中包括的所述感兴趣像素周围的外围像素的值，在所述处理区域中检测梯度或边缘，所述处理区域包括多个像素，其中感兴趣像素位于中间；

校正值获取部件，根据检测到的梯度或边缘，选择用于所述感兴趣像素的校正值的获取的像素，并根据所选的像素的值来获取所述校正值；和

缺陷像素替换部件，当确定所述感兴趣像素为图像的缺陷时，以所述校正值替换所述感兴趣像素的值。

2.根据权利要求1所述的像素缺陷校正器件，

其中所述图像的多个像素中的每一个对应于从预定数量的颜色中选择的颜色，以及

所述梯度检测部件基于具有与所述感兴趣像素不同颜色的外围像素的值，检测所述处理区域的梯度或边缘。

3.根据权利要求2所述的像素缺陷校正器件，

其中，为了在所述处理区域中检测梯度或边缘，所述梯度检测部件基于所述处理区域中包括的具有与所述感兴趣像素不同颜色的外围像素的值，对于所述处理区域中的多个方向获取梯度或边缘，并从所获取的多个方向上的梯度或边缘选择与最缓和的梯度或边缘相对应的方向，以及

所述校正值获取部件以所述感兴趣像素作为基准，选择存在于最缓和的梯度或边缘方向上的具有与所述感兴趣像素相同颜色的像素。

4.根据权利要求3所述的像素缺陷校正器件，

其中，所述梯度检测部件获取所述处理区域的像素排列中包括纵向方向、水平方向、右上方向和左上方向的四个方向上的梯度或边缘。

5.根据权利要求2到4中任意一个所述的像素缺陷校正器件，

其中，当以所述感兴趣像素作为基准，在最缓和的梯度或边缘方向上包括具有与所述感兴趣像素相同颜色的缺陷像素时，所述梯度检测部件将所选的梯度或边缘方向改变到另一方向。

6.根据权利要求2到5中的任意一个所述的像素缺陷校正器件，

其中，所述校正值获取部分获取所述处理区域中具有与所述感兴趣像素相同颜色的多个外围像素的值的平均值。

7.根据权利要求6所述的像素缺陷校正器件，

其中，所述校正值获取部件根据至少除了最大值和最小值之外的、所述处理区域中具有与所述感兴趣像素相同颜色的多个外围像素的值来获取所述平均值。

8.根据权利要求1到5中的任意一个所述的像素缺陷校正器件，

其中，所述校正值获取部件以所述感兴趣像素作为基准，选择存在于由所述梯度检测部件检测到的梯度或边缘方向上的多个像素，并获取所述多个像素的值的平均值作为所述校正值。

9.根据权利要求8所述的像素缺陷校正器件，

其中，所述校正值获取部件以所述感兴趣像素作为基准，确定存在于所述梯度或边缘方向上的多个像素中是否包括缺陷像素，并且当在所述多个像素中包括缺陷像素时，根据所述多个像素之中缺陷像素以外的像素的值来获取所述校正值。

10.根据权利要求9所述的像素缺陷校正器件，

其中，所述校正值获取部件基于外围像素的第二最大值或第二最小值，在所述处理区域中包括的多个外围像素之中确定最大值或最小值的外围像素的缺陷，以及

所述缺陷确定部件在最大值或最小值的外围像素没有缺陷时基于最大值或最小值来确定所述感兴趣像素的缺陷，而在最大值或最小值的外围像素有缺陷时基于第二最大值或第二最小值来确定所述感兴趣像素的缺陷。

11.根据权利要求9所述的像素缺陷校正器件，

其中，所述校正值获取部件基于外围像素的第n最大或最小值，在所述处理区域中包括的多个外围像素之中，确定从最大值或最小值到第(n-1)个值的多个外围像素的缺陷，其中n是2或更大的自然数，以及

所述缺陷确定部件在最大值或最小值的外围像素没有缺陷时，基于最大值或最小值来确定所述感兴趣像素的缺陷，而当最大值或最小值的外围像素有缺陷时，基于第n最大或最小值来确定所述感兴趣像素的缺陷。