[发明专利]一种基准尺法大直径测量π尺装置及测量方法

权利要求书

1.一种基准尺法大直径测量π尺装置及测量方法，其特征在于，该装置由初始测量单元(A)和一系列相互独立的基准测量单元(B、C、D、E、F、G、H、I、J、K、L)组成；初始测量单元(A)设有水平仪A2和封闭环尺寸测量部件，其中封闭环测量部件由固定螺钉(A3)，卡尺固定架(A4、A4’)，电子游标卡尺(A5)，封闭环测量带(A6)，数码显示屏(A7)，移动滑块(A8)，自动张紧绳(A9)组成；基准测量单元由左右两个长方体磁性定位元件、一个殷钢测量带组成，其长度有四种：1米，0.5米，0.25米，0.125米，其中测量单元(A、B、C、D、E、F、G、H、I)的长度为1米，测量单元(J)的长度为0.5米，测量单元(K)的长度为0.25米，测量单元(L)的长度为0.125米；这套装置可测量的直径最大值为3.145米。

2.一种基准尺法大直径测量π尺装置，其采用的测量方法，其特征是，采用基准尺法测量大直径工件，其步骤如下：

1)将初始测量单元(A)安装在被测圆周表面被测直径部位处，确认初始测量单元(A)上左磁性定位元件(A1)与右磁性定位元件(A12)与被测圆周表面接触，并且通过长方形磁铁上的水平仪(A2)保证定位块水平，进而保证测量的准确性；

2)用手给初始测量单元(A)一定的拉力，保证测量带张紧，紧贴着被测量元件；

3)将基准测量单元(B)安装在被测圆周表面被测直径部位处，将其凸槽与凹槽紧密连接起来，给(B)一定的拉力，保证基准测量单元(B)张紧和紧贴工件，保证测量的准确性；

4)按步骤3)所述的方法重复安装在长度与基准测量单元(B)相同的测量单元，直到最后一个安装的基准测量单元与初始测量单元之间的距离不足以放下另一个长度为1米的基准测量单元为止；

5)取长度为0.5米的基准测量单元(J)，按步骤3)所述的方法将其安装在工件上；若此时封闭尺寸大于0.25米，则继续安装基准测量单元(K)和(L)；若封闭尺寸小于0.25米则直接安装基准测量单元(L)即可；这样就能使最后的封闭尺寸小于等于0.125米；

6)采用上述步骤安装各测量单元之后，形成初始测量单元(A)与最后一个基准测量单元之间的距离，即最终的封闭尺寸；这个尺寸由初始测量单元(A)中的封闭环测量部件测出；在其测量带(A6)的前端有方形定位块，具有磁性，用于和最后一个测量单元的定位，拉动测量带使其良好定位；安装完毕后，人工输入所有安装的测量单元的尺寸之和后，会自动在显示屏中显示经过单片机计算得出的被测圆周直径尺寸，测量完毕。