[发明专利]同轴电缆综合测试仪

说明书

技术领域

本发明涉及一种同轴电缆综合测试仪，用于同轴电缆综合测试。

背景技术

单片机，也被称为微控制器。是一种集成在电路芯片，是采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能力的中央处理器CPU随机存储器RAM、只读存储器ROM、多种I/O口和中断系统、定时器/计时器等功能（可能还包括显示驱动电路、脉宽调制电路、模拟多路转换器、A/D转换器等电路）集成到一块硅片上构成的一个小而完善的计算机系统。传统的与单片机技术相结合的同轴电缆测试仪大多只能测试电信部门的标准通信信道，低速以一、二次群为主，高速可达ＳＤＨ信道速率；且价格昂贵、体积偏大，不能用于测试实际工作中大量存在的专用信道或自行架设的信道。

发明内容

本发明的目的在于提供一种同轴电缆综合测试仪，其不仅能够实现对数字通道的误码测试及分析，同时还能实现对多种型号同轴电缆接头制作工艺质量的检测。

本发明的技术方案是这样实现的：一种同轴电缆综合测试仪，由壳体及壳体内的码型发生器、误码接收机、控制模块组成，其特征在于：壳体内的码型发生器设置有m序列发生器，误码接收机设置有位同步模块、本地序列同步模块、序列比较模块及误码计数器，控制模块设置有单片机，其中单片机与外部连接的模块有键盘、点阵型LCD、RS232接口、存储器及时钟。

所述的m序列发生器采用ＣＣＩＴＴ用于低速数据传输设备测试误码的ｍ序列，其多项式为Ｘ９＋Ｘ５＋１，周期为５１２；可以进行多种码型变换和调制解调。

所述的位同步模块是从传来的码元中提取位同步信息——码元时钟并将这一时钟提供给本地序列同步模块。

所述的序列比较模块用于比较检验序列与测试序列的一致性；测试序列与检验序列的比较必须与ｍ序列在同一周期的同一位置，即同相进行比较；并将完成了序列比较后的序列比较模块实时地传送给单片机。 

本发明的积极效果是大幅度的节省通道测试时间及节省同轴电缆接头焊接质量检测时间，大大降低劳动强度，同时可对多种型号的同轴电缆接头进行测试；可实现对BNC压接式、L9-J、CC3-J、L9-JKJ三通带、L9-JW、CC6-J等型号的同轴电缆接口的焊接质量测试；检测一个接头较以往节省1分20秒，以680个接头为总数，合计节省时间达两个工作日。

附图说明

图1为本发明结构框图。

其中图中1为壳体，2为被测信道，3为m序列发生器，4为位同步模块，5为本地序列同步模块，6为序列比较模块及误码计数器，7为单片机，8为键盘，9为点阵型LCD，10为RS232接口，11为存储器及时钟，12为噪声源。

具体实施方式

下面结合附图对要本发明做进一步的描述：       如图1所示，同轴电缆综合测试仪，由壳体1及壳体内的码型发生器、误码接收机、控制模块组成，其特征在于：壳体内的码型发生器设置有m序列发生器3，误码接收机设置有位同步模块4、本地序列同步模块5、序列比较模块及误码计数器6，控制模块设置有单片机7，其中单片机与外部连接的模块有键盘8、点阵型LCD9、RS232接口10、存储器及时钟11。

所述的m序列发生器采用ＣＣＩＴＴ用于低速数据传输设备测试误码的ｍ序列，其多项式为Ｘ９＋Ｘ５＋１，周期为５１２；可以进行多种码型变换和调制解调。

所述的位同步模块是从传来的码元中提取位同步信息——码元时钟并将这一时钟提供给本地序列同步模块。

所述的序列比较模块用于比较检验序列与测试序列的一致性；测试序列与检验序列的比较必须与ｍ序列在同一周期的同一位置，即同相进行比较；并将完成了序列比较后的序列比较模块实时地传送给单片机。 

 同轴电缆综合测试仪工作时，首先是壳体1内的码型发生器设置的m序列发生器3对被测信道路2内的噪声源12根据用户的需求速率产生测试序列，ｍ序列发生器3的主要功能是根据用户的速率要求产生测试序列——ｍ序列；实际设计时，采用ＣＣＩＴＴ建议的用于低速数据传输设备测试误码的ｍ序列，其特征多项式为Ｘ９＋Ｘ５＋１，周期为５１２；在外部附件的支持下，它还可以进行多种码型变换和调制解调。

 此时位同步模块4根据被测信道路2传来的码元中提取位同步信息——码元时钟，并将这一时钟提供给本地序列同步模块5，以便在本地恢复出与测试序列同步的检验序列。