[发明专利]转动测定装置、薄片输送装置、图像形成装置有效
申请号: | 201010527759.7 | 申请日: | 2010-10-21 |
公开(公告)号: | CN102050339A | 公开(公告)日: | 2011-05-11 |
发明(设计)人: | 佐藤修;中里保史;上浩二;今关三记子;山下昌秀;山根淳 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
主分类号: | B65H7/14 | 分类号: | B65H7/14;B65H5/06;G03G15/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王冉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 转动 测定 装置 薄片 输送 图像 形成 | ||
1.一种转动测定装置,其中包括以下部件:
被检部件,其被设置为以转动体的转动轴线为中心与该转动体的转动轴部件同步转动,而且用传感器来检测该被检部件本身具有的预定特性;
传感器,从转动轴线方向上面对该被检部件的位置来检测该被检部件的所述预定特性;以及,
计算装置,根据该传感器的检测结果,来计算该转动体的转动量,
其特征在于,
使用该传感器和该被检部件的组合,使得该被检部件每转动一次,该传感器便输出一个周期的正弦波,而且该传感器输出的正弦波的振幅随着该被检部件与该转动体一起在轴线正交方向的移动而变化,轴线正交方向即为与该转动轴线方向正交的方向,
该计算装置被构成为,可在根据该正弦波计算该转动量的同时,根据该振幅的变化量来计算该转动体在该轴线正交方向上的位移量。
2.根据权利要求1所述的转动测定装置,其中,
使用在面对所述传感器的对向面上相对于所述被件部件具有倾斜的部件作为所述被检部件,该倾斜为,在该被检部件的转动方向的预定位置上延伸的直径假想线的一端的被检部件部位最接近该传感器,而该直径假想线的另一端的被检部件部位则与该传感器相距最远,同时,
使用距离传感器作为所述传感器,其被设置为以该被检部件中以所述转动轴线为中心的预定转动角度位置上的某一部位为被检对象,并检测该部位与该传感器本身之间的距离。
3.根据权利要求1所述的转动测定装置,其中,
使用磁铁作为所述被检部件,该磁铁被设置为以所述转动轴线为中心进行转动,同时,
用霍尔元件作为所述传感器,该霍尔元件被设置为以该磁铁中以该转动轴线为中心的预定转动角度位置上的某个部位为被检对象,并检测该部位上的所述特性即磁作用力。
4.根据权利要求1所述的转动测定装置,其中,
使用在面对所述传感器的对向面上相对于所述被检部件具有浓度梯度的部件作为被检部件,在该对向面上,在被检部件转动方向的预定位置上延伸的直径假想线一端的被检部部件部位上的浓度为最高,而另一端的被检部件部位上的浓度为最低,同时,
用浓度传感器作为所述传感器,其被设置为,以该被检部件中以转动轴线为中心的预定转动角度位置上的某个部位为被检对象,并检测该部位的浓度。
5.根据权利要求所述1~4中任意一项所述的转动测定装置,其中,所述计算装置被构成为,根据一个所述传感器的输出,来计算所述转动体在所述轴线正交方向上的位移量。
6.根据权利要求1~4中任意一项所述的转动测定装置,其中,
用被配置为以被检部件中互不相同的部位为被检对象的多个传感器为所述传感器,同时,
所述计算装置被构成为,根据各个传感器输出的所述正弦波的振幅,来计算所述转动体的所述轴线正交方向上的位移量。
7.根据权利要求6所述的转动测定装置,其中,在沿着所述转动体的所述轴线正交方向的位移方向上排设多个所述传感器。
8.根据权利要求1~4中任意一项所述的转动测定装置,其中,
用被配置为以被检部件中的不同部位为被检对象的多个传感器为所述传感器,同时,
所述运算装置被构成为,用各个传感器输出的所述正弦波的相位偏移量来取代所述正弦波的振幅,计算所述转动体在所述轴线正交方向上的位移量。
9.根据权利要求8所述的转动测定装置,其中,所述计算装置被构成为根据所述相位偏离量,来对所述转动量的计算结果进行补偿处理。
10.根据权利要求8所述的转动测定装置,其中,在与沿着所述转动体的所述轴线正交方向的位移方向正交的方向上排设多个传感器。
11.根据权利要求9所述的转动测定装置,其中,在与沿着所述转动体的所述轴线正交方向的位移方向正交的方向上排设多个传感器。
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