[发明专利]主板测试系统与交流电源通断测试机

说明书

技术领域

本发明涉及一种主板的测试装置，尤其是一种利于主板排错的主板测试系统与交流电源通断测试机。

背景技术

一般业界在主板出厂前都会经过频繁的开关机测试，来测试主板对于负载变化的耐受度(例如一千次)，再加上受测主板的数量众多，实难以一般人工操作方法来进行测试。关于主板的设计验证，常使用到测试主板的测试机。

现有的测试方式是通过测试机内部的控制器，提供交流电源的通断给主板，并对主板进行相关的测试。一般的开关机测试并无法立即得知受测装置的信息细节。当测试机还有端口没有被使用，我们也无法在测试进行时加入新的服务器进行主板测试。

现有的测试机本身存在一个较大缺陷，如果测试机只能根据一个主板的数据线来控制220V交流电的通断，若有其它的主板出错，测试机无法停止测试，因此对于出错信息可能无法被保留，从而测试人员不容易对主板做排错，也不容易得知主板中哪个零件在运作过程出现问题。故目前业界需要一发明来改善上述缺点。

发明内容

为了克服上述缺陷，本发明提供一种主板测试系统，所述主板测试系统包括一交流电源通断测试机、一第一主板以及一第二主板；所述交流电源通断测试机包括：一第一数据端口；一第二数据端口；一开机自我测试判断逻辑单元，连接至所述第一数据端口与所述第二数据端口；一电源输出控制逻辑单元，连接至所述开机自我测试判断逻辑单元；以及一第一交流电源输出端口。所述第一主板包括一第一数据线及一第一交流电源线。所述第一数据线连接所述第一数据端口。所述第一交流电源线连接所述第一交流电源输出端口。所述第二主板包括一第二数据线及一第二交流电源线。所述第二数据线连接所述第二数据端口，所述第二交流电源线连接所述第一交流电源输出端口。所述开机自我测试判断逻辑单元与所述电源输出控制逻辑单元决定所述第一数据端口、第二数据端口及所述第一交流电源输出端口的关联程度；并且所述开机自我测试判断逻辑单元通过所述第一数据端口或所述第二数据端口读取主板传来的数据，而使所述电源输出控制逻辑单元控制所述第一交流电源输出端口的输出。

在本发明的一实施例中，所述开机自我测试判断逻辑单元通过所述第一数据端口、第二数据端口读取所述第一主板传来的一第一开机自我测试码信号、所述第二主板传来的一第二开机自我测试码信号，当所述第一开机自我测试码信号及所述第二开机自我测试码信号都符合一预设值时，则所述开机自我测试判断逻辑单元送出一电源控制信息给所述电源输出控制逻辑单元，以使所述电源输出控制逻辑单元继续进行交流电源的通断至所述第一主板与所述第二主板。

在本发明的一实施例中，所述主板测试系统还包括一主机，所述主机连接至所述交流电源通断测试机，所述主机用以设定所述第一数据端口、第二数据端口及所述第一交流电源输出端口的关联程度。

本发明还提出一种主板测试系统，所述主板测试系统包括一交流电源通断测试机、一第一主板以及一第二主板。所述交流电源通断测试机包括：一第一数据端口；一第二数据端口；一开机自我测试判断逻辑单元，连接至所述第一数据端口与所述第二数据端口；一电源输出控制逻辑单元，连接至所述开机自我测试判断逻辑单元；一第一交流电源输出端口；以及一第二交流电源输出端口。所述第一主板包括一第一数据线及一第一交流电源线，所述第一数据线连接所述第一数据端口。所述第一交流电源线连接所述第一交流电源输出端口。所述第二主板包括一第二数据线及一第二交流电源线。所述第二数据线连接所述第二数据端口。所述第二交流电源线连接所述第二交流电源输出端口。所述开机自我测试判断逻辑单元与所述电源输出控制逻辑单元决定所述第一数据端口、第二数据端口及所述第一交流电源输出端口、第二交流电源输出端口的关联程度；并且所述开机自我测试判断逻辑单元通过所述第一数据端口或所述第二数据端口读取主板传来的数据，而使所述电源输出控制逻辑单元控制所述第一交流电源输出端口或所述第二交流电源输出端口的输出。

在本发明的一实施例中，所述开机自我测试判断逻辑单元通过所述第一数据端口读取所述第一主板传来的一第一开机自我测试码信号、所述第二主板传来的一第二开机自我测试码信号，当所述第一开机自我测试码信号符合一第一预设值时，则所述开机自我测试判断逻辑单元送出一第一电源控制信息给所述电源输出控制逻辑单元，以使所述电源输出控制逻辑单元继续对所述第一主板进行交流电源的通断；而当所述第二开机自我测试码信号符合一第二预设值时，则所述开机自我测试判断逻辑单元送出一第二电源控制信息给所述电源输出控制逻辑单元，以使所述电源输出控制逻辑单元继续对所述第二主板进行交流电源的通断。