[发明专利]一种功率型GaN基肖特基二极管及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201010529792.3 申请日: 2010-10-29
公开(公告)号: CN102054875B 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 刘扬;贺致远;李佳林;张佰君 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: H01L29/812 分类号: H01L29/812;H01L21/38;H01L29/41;H01L29/43
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 禹小明
地址: 510275 *** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 功率 gan 基肖特基 二极管 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种功率型GaN基肖特基二极管,包括金属衬底(11)以及通过金属衬 底(11)支撑连接的半导体外延叠层,该半导体外延叠层由外向金属衬底(11) 依次包含N型GaN层(3)、低掺杂的GaN层(4)和肖特基金属层(10);其 特征在于,所述GaN基肖特基二极管具有上下电极结构,金属衬底(11)与肖 特基金属层(10)一起作为肖特基二极管的阳极;N型GaN层(3)下设有金属 电极作为阴极;

所述低掺杂的GaN层(4)和N型GaN层(3)中设有一柱形孔(5)和小 柱形孔(6),所述柱形孔(5)和小柱形孔(6)相通的,所述柱形孔(5)和小 柱形孔(6)的填充材料由N型GaN层(3)向低掺杂的GaN层(4)方向依次 包含导电物质(7)、导电金属层(8)和绝缘体(9),所述导电物质(7)和导 电金属层(8)构成一T形导电体,导电物质(7)与金属电极电接触一起作为 肖特基二极管的阴极,绝缘体(9)连接肖特基金属层(10)。

2.根据权利要求1所述的功率型GaN基肖特基二极管,其特征在于,所述 N型GaN层(3)与金属电极之间设有缓冲层(2),且金属电极穿过缓冲层(2) 作为阴极。

3.根据权利要求1所述的功率型GaN基肖特基二极管,其特征在于,所述 金属电极为缓冲层(2)下表面淀积的金属层(12),金属层(12)与导电物质 (7)形成良好欧姆接触作为肖特基二极管的阴极。

4.根据权利要求1所述的功率型GaN基肖特基二极管,其特征在于,所述 T形导电体中的导电金属层(8)与绝缘体(9)面连接,导电金属层(8)与绝 缘体(9)的连接界面位于柱形孔(5)中;所述绝缘体(9)为将导电金属层(8) 和肖特基金属层(10)电隔离的绝缘材料;所述T形导电体的填充材料为与N 型GaN层(3)形成欧姆接触的金属和/或合金。

5.根据权利要求1所述的功率型GaN基肖特基二极管,其特征在于,金属 电极为在N型GaN层(3)下表面通过蒸镀工艺的方法镀上一层金属层(12), 与N型GaN层(3)一起作为肖特基二极管的阴极。

6.根据权利要求1所述的功率型GaN基肖特基二极管,其特征在于,将半 导体外延叠层转移到导电Si衬底(13)上,肖特基金属层(10)与导电Si衬底 (13)连接,在N型GaN层(3)下表面镀上金属层(12),与N型GaN层(3) 一起作为肖特基二极管的阴极。

7.根据权利要求1所述的功率型GaN基肖特基二极管,其特征在于,所述 金属衬底(11)为Cu或Fe或Au或Cr。

8.一种功率型GaN基肖特基二极管的制备方法,其特征在于,包括以下步 骤:

A、先把Si衬底(1)清洗干净,在金属有机化学气相沉积设备中,依次生 长缓冲层(2),N型GaN层(3)和低掺杂的GaN层(4);

B、半导体外延层沉积完毕后,通过干法刻蚀,在N型GaN层刻蚀出一柱 形孔(5),该柱形孔的刻蚀深度要求刻蚀到N型GaN层(3);

C、再次进行干法刻蚀,在已经刻蚀的图形中再次刻蚀一个直径较小的小柱 形孔(6),该柱形孔的刻蚀深度要求一直刻蚀到Si衬底(1);

D、在上述的柱形孔结构(5)和小柱形孔(6)形成的T形孔结构中蒸镀导 电物质(7),通过高温退火,使得导电物质(7)与N型GaN层(3)形成欧姆 接触;

E、采用蒸镀工艺在导电物质(7)上镀上导电金属层(8),使得导电金属 层(8)能够覆盖导电物质(7)起到保护作用;

F、采用淀积工艺在导电金属层(8)上淀积绝缘介质层(9),使得绝缘介 质层完全填充整个柱形孔结构(5)和小柱形孔(6);

G、采用蒸镀工艺在绝缘介质层(9)以及低掺杂GaN层(4)上面蒸镀肖 特基金属层(10);

H、用电镀方法,在肖特基金属层(10)上面电镀上金属衬底(11);

I、采用湿法腐蚀,将Si衬底(1)腐蚀掉,露出导电物质(7),以导电物 质(7)作为导电阴极,并联封装形成器件。

9.根据权利要求8所述的功率型GaN基肖特基二极管的制备方法,其特征 在于,所述步骤A中,缓冲层(2)为高温生长的GaN/AlN超晶格结构或低温 生长AlN缓冲层或AlGaN组份渐变缓冲层,用于调控由晶格失配和热导率失配 引起的应力;所述步骤D中,形成欧姆接触的导电物质(7)为Ti/Al/Ni/Au合 金或Ti/Al/Ti/Au合金或Ti/Al/Mo/Au合金;所述步骤G中,肖特基金属层(10) 为Ni/Au合金或Pt/Au合金或Pd/Au合金。

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