[发明专利]物镜、光学拾取器以及光盘装置有效

专利信息
申请号: 201010530154.3 申请日: 2010-11-02
公开(公告)号: CN102054491A 公开(公告)日: 2011-05-11
发明(设计)人: 相叶基夫;安住航平 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09;G11B7/12;G02B13/22;G02B13/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 物镜 光学 拾取 以及 光盘 装置
【权利要求书】:

1.一种包括树脂材料并以0.8以上的数值孔径将入射光线聚焦在光盘上的物镜,所述入射光线具有410nm以下的波长并且从光源发射,

其中,当将在0℃下的透镜倾斜灵敏度定义为由每1度的透镜倾斜所引起的三阶彗形像差量时,所述透镜倾斜灵敏度为130mλrms/度以下,所述透镜倾斜是所述物镜的光轴和包括所述物镜的光学系统的系统光轴之间形成的角度。

2.根据权利要求1所述的物镜,其中,所述树脂材料的折射率n在405nm的波长下满足1.50≤n≤1.60,所述树脂材料相对于其温度的折射率梯度dn/dT满足-1.3×10-4≤dn/dT≤-1.0×10-4

3.根据权利要求2所述的物镜,其中,

所述物镜的焦距f为1.412mm,

所述树脂材料的折射率n为1.560,

所述树脂材料相对于其温度的折射率梯度dn/dT为-1.09×10-4,以及,

假设当入射至所述物镜的所述光线的光轴在35℃下相对于所述系统光轴倾斜1度时所引起的三阶彗形像差和五阶彗形像差分别为三阶轴外彗形像差灵敏度x[mλrms/度]和五阶轴外彗形像差灵敏度y[mλrms/度],以及当作为所述物镜的两个表面的透镜中心之间的间隔的透镜厚度从设计值增加1μm时所引起的三阶球面像差量为透镜厚度灵敏度z[mλrms/μm],

所述三阶轴外彗形像差灵敏度x、所述五阶轴外彗形像差灵敏度y和所述透镜厚度灵敏度z分别确定为使得由以下表达式(1)所表示的函数F(x,y,z)等于130以下,

F(x,y,z)=-1.05x-0.27y+1.03z+144.00    ...(1)。

4.根据权利要求3所述的物镜,其中,所述三阶轴外彗形像差灵敏度x满足-25.00≤x≤+25.00,所述五阶轴外彗形像差灵敏度y满足-25.00≤y≤+25.00,并且所述透镜厚度灵敏度z满足-25.00≤z≤+25.00。

5.根据权利要求2所述的物镜,其中,

所述物镜的焦距f为1.412mm,

所述树脂材料的折射率n为1.560,

所述树脂材料相对于其温度的折射率梯度dn/dT为-1.09×10-4,以及,

假设当入射至所述物镜的所述光线的光轴在35℃下相对于所述系统光轴倾斜1度时所引起的三阶彗形像差和五阶彗形像差分别为三阶轴外彗形像差灵敏度x[mλrms/度]和五阶轴外彗形像差灵敏度y[mλrms/度],以及在光轴方向上从通过所述物镜的光源侧光学表面的表面顶点的切平面至位于所述光源侧光学表面上以1.20mm的半径远离所述光源侧光学表面的相应表面顶点的点的长度为光源侧下垂量w[mm],

所述三阶轴外彗形像差灵敏度x、所述五阶轴外彗形像差灵敏度y以及所述光源侧下垂量w分别确定为使得由以下表达式(2)所表示的函数F(x,y,w)等于130以下,

F(x,y,w)=-1.10x-0.20y+150.13w-11.94    ...(2)。

6.根据权利要求5所述的物镜,其中,所述三阶轴外彗形像差灵敏度x满足-25.00≤x≤+25.00,所述五阶轴外彗形像差灵敏度y满足-25.00≤y≤+25.00以及所述光源侧下垂量w满足0.85≤w≤1.23。

7.根据权利要求1所述的物镜,其中,0℃下的所述透镜倾斜灵敏度为115mλrms/度以下。

8.根据权利要求7所述的物镜,其中,所述树脂材料的折射率n在405nm的波长下满足1.50≤n≤1.60,以及

所述树脂材料相对于其温度的折射率梯度dn/dT满足-1.3×10-4≤dn/dT≤-1.0×10-4

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