[发明专利]类eIRA准循环低密度奇偶校验码的校验矩阵构造方法无效

专利信息
申请号: 201010531777.2 申请日: 2010-11-04
公开(公告)号: CN102006085A 公开(公告)日: 2011-04-06
发明(设计)人: 费泽松;沈朱哲;倪吉庆;匡镜明 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: H03M13/11 分类号: H03M13/11;H04L1/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: eira 循环 密度 奇偶 校验码 校验 矩阵 构造 方法
【权利要求书】:

1.类eIRA准循环低密度奇偶校验码的校验矩阵构造方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1:根据所要构造码字的码长和编码复杂度的要求,获得基于有限域GF(q)的基矩阵W1,基矩阵W1具有q-1行q-1列:

其中α是有限域GF(q)的一个本原元,q取2的幂次,并且应保证2×(q-1)2大于所要构造码字的码长,q的取值还应满足编码的复杂度的要求;

步骤2:将步骤1获得的矩阵W1的每一列上下倒转,并将倒转处理后的该矩阵乘以因子(αq-2-1)-1,从而得到如下矩阵W2,其对角线上元素均为α°:

步骤3:将W2中的每个元素都用该元素的循环置换矩阵代替,得到具有(q-1)2行(q-1)2列的校验矩阵H2

其中I为q-1行q-1列的单位矩阵,An为W2中该位置元素所对应的循环置换矩阵;

步骤4:将H2的主对角线以及主对角线下方第一条对角线上的子矩阵从H2中剥离,分为两个矩阵,并分别补零,构造出如下式中的两个子矩阵:

将这两个矩阵横向拼合在一起,构成校验矩阵H:

H具有(q-1)2行2×(q-1)2列。

2.根据权利要求1所述类eIRA准循环低密度奇偶校验码的校验矩阵构造方法,其特征在于,还包括步骤5:采用可保证步骤4所获得的校验矩阵H的准循环结构不变的短环消除方法,进一步对校验矩阵H进行短环消除,即对H矩阵的左半部份进行优化。

3.根据权利要求2所述类eIRA准循环低密度奇偶校验码的校验矩阵构造方法,其特征在于,步骤5中所述短环消除方法,包括如下步骤:

首先进行短环搜索:构造与步骤4获得的校验矩阵的最后m-t行子矩阵相对应的Tanner图G(t);选择与该校验矩阵的最后m-t行子矩阵的第一行相对应的校验节点,并且构造该节点的邻居树T(t);找出T(t)中的所有环路径,形成集合C(t+1)的元素,其中t从0开始递增到m-1,而m为H矩阵的行数;

然后进行短环消除:假设C(1),C(2),...,C(m)的并集中有c个环,在步骤4获得的校验矩阵H中共有s个子矩阵,先构造一个辅助的c×s二元矩阵M,它的每行和C(1),C(2),...,C(m)的并集中的环对应,而每列和校验矩阵H中的子矩阵对应;当且仅到第i个环路径通过第j个子矩阵时Mj,i=1,否则为0;找到M中具有最大列重的列i;将第i列所对应的子矩阵用零矩阵替换;对于每一个满足Mj,i=1的j,将第j行所有元素清零;如果所得M不是全零矩阵,继续找M中具有最大列重的列,重复进行直到M为全零矩阵为止。

4.根据权利要求1或2或3所述类eIRA准循环低密度奇偶校验码的校验矩阵构造方法,其特征在于:步骤3中循环置换矩阵可通过对单位矩阵进行相应循环位移得到。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京理工大学,未经北京理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010531777.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top