[发明专利]电子装置测试系统及方法无效
申请号: | 201010532043.6 | 申请日: | 2010-10-27 |
公开(公告)号: | CN102455965A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 |
发明(设计)人: | 饶耀中;蔡圣源;王定宏;庄濬维;张天超 | 申请(专利权)人: | 英业达股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 陈红 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电子 装置 测试 系统 方法 | ||
技术领域
本发明是有关于一种测试系统以及方法,且特别是有关于一种电子装置测试系统以及方法。
背景技术
随着信息科技的高度发展,计算机硬件装置的应用也愈趋普及。这些计算机硬件装置包括使屏幕显示数据的显示卡、使计算机发出声音的声卡等以及连结网络的网络卡等。以网络卡为例,网络卡是计算机主机和因特网沟通的桥梁,如果没有网络卡,则计算机主机就无法连结上因特网。
当这些计算机硬件装置制作完成,需要一套测试方法来测试这些硬件装置的功能以及效能。例如,在测试网络卡时,会先启用网络卡,然后确认主机是否能够连结上因特网,以及连结上网络所耗费的时间,来验证网络卡的功能以及效能。
其中,在进行测试各硬件装置时,需根据待测硬件装置所采用的接口,将待测硬件装置装设至主机上对应的插槽。举例来说,当待测硬件装置是采用PCI时,需将待测硬件装置装设至主机的PCI插槽上,以进行测试。然而,若待测硬件装置所采用的数据传输接口不支持热插拔时,需先将主机关机,才可以更换下一个待测硬件装置。这样的测试流程是十分费时且不便的。
发明内容
因此,本发明的一目的是在提供一种电子装置测试系统,用以透过具热移除功能的数据传输装置,对待测装置进行功能测试,并在功能测试完成后,热移除数据传输装置。电子装置测试系统包含一第一数据传输装置、一接口转接卡(interface card)以及一计算机。第一数据传输装置具有一热移除功能。接口转接卡包含一第二数据传输接口以及一转换模块。第二数据传输接口用以连接一待测装置。转换模块电性连接第一数据传输装置以及第二数据传输接口。转换模块对第一数据传输装置以及第二数据传输接口之间传输的数据进行转换。计算机包含一处理组件。处理组件透过第一数据传输装置,连接接口转接卡。处理组件包含一测试模块以及一移除模块。测试模块使第一数据传输装置,透过接口转接卡,对待测装置进行一功能测试。移除模块在功能测试完成时,通过热移除功能,移除第一数据传输装置。
依据本发明一实施例,处理组件还可包含一侦测模块,用以在移除第一数据传输装置,且侦测到接口转接卡连接另一待测装置时,致能第一数据传输装置,并触发测试模块开始使第一数据传输装置,透过接口转接卡对另一待测装置,进行功能测试。
依据本发明另一实施例,功能测试可包含一识别码验证测试。测试模块可包含一识别码验证器,用以使接口转接卡透过第二数据传输接口,自待测装置取得待测装置的一第一识别码。识别码验证器使转换模块将第一识别码,转换为对应第一数据传输装置的一第二识别码,并根据第二识别码进行识别码验证测试。
依据本发明另一实施例,其中待测装置可包含一储存组件,功能测试可包含一储存组件存取测试。测试模块可包含一储存组件存取测试器,用以使第一数据传输装置,透过接口转接卡,对待测装置的储存组件,进行储存组件存取测试。
依据本发明另一实施例,其中待测装置可包含一温度感测组件,功能测试包含一温度感测测试。测试模块可包含一温度感测测试器,用以使第一数据传输装置,透过接口转接卡对待测装置的温度感测组件,进行温度感测测试。
依据本发明另一实施例,其中待测装置包含至少一插槽,插槽用以插设一外围装置,功能测试包含一插槽测试。测试模块包含一插槽测试器,用以使第一数据传输装置,透过接口转接卡对插设于插槽的外围装置,进行插槽测试。
本发明的另一目的是在提供一种电子装置测试方法,用以透过具热移除功能的数据传输接口,对待测装置进行功能测试,并在功能测试完成后,热移除数据传输装置。电子装置测试方法包含以下步骤:提供一计算机。其中,计算机包含一第一数据传输接口,第一数据传输接口具有一热移除功能。提供一接口转接卡。其中,接口转接卡电性连接第一数据传输接口。接口转接卡包含一第二数据传输接口,用以连接一待测装置。使计算机的第一数据传输接口透过接口转接卡,对待测装置进行一功能测试。其中,接口转接卡自第一数据传输接口,接收功能测试的至少一第一测试指令。接口转接卡将至少一第一测试指令,转换为对应第二数据传输接口的至少一第二测试指令。其中,功能测试可包含一识别码验证测试、一储存组件存取测试、一温度感测测试或一插槽测试。于是,待测装置执行至少一第二测试指令,以进行功能测试。在功能测试完成时,通过热移除功能,移除第一数据传输接口。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英业达股份有限公司,未经英业达股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010532043.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。