[发明专利]一种多角度光学特征检测方法及装置无效

专利信息
申请号: 201010533349.3 申请日: 2010-11-02
公开(公告)号: CN101986353A 公开(公告)日: 2011-03-16
发明(设计)人: 万成凯;唐辉;成和建;鲍东山 申请(专利权)人: 北京新岸线软件科技有限公司
主分类号: G07D7/20 分类号: G07D7/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100084 北京市海淀区中关村*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 角度 光学 特征 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种多角度光学特征检测方法,其特征在于,采用接触式图像传感器CIS获取被检测物上预定区域的图像,该方法包括:

从第一角度θ1获取被检测物上预定区域的第一图像;

从第二角度θ2获取被检测物上预定区域的第二图像;

其中第二角度θ2与第一角度θ1的差值大于预定值ω;

比较所述第一图像与第二图像,以判断所述区域是否具有多角度光学特征,多角度光学特征包括变色油墨的变色特征、全息图像的图案变化特征。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从第一角度θ1获取被检测物上预定区域的第一图像,具体包括:

光源以第一角度θ1照射被检测物上预定区域,从所述预定区域反射的反射光通过透镜入射到CIS传感器后成像;

所述从第二角度θ2获取被检测物上预定区域的第二图像,具体包括:

光源以第二角度θ2照射被检测物上预定区域,从所述预定区域反射的反射光通过透镜入射到CIS传感器后成像。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从第一角度θ1获取被检测物上预定区域的第一图像,具体包括:

光源以预定角度照射被检测物上的预定区域;从所述预定区域反射的反射光通过第一透镜以角度θ1入射到第一CIS传感器后成像;

从第二角度θ2所述获取被检测物上预定区域的第一图像,具体包括:

光源以预定角度照射被检测物上的预定区域;从所述预定区域反射的反射光通过第二透镜以角度θ2入射到第二CIS传感器后成像。

4.如权利要求1、2或3所述的方法,其特征在于,

所述第一角度θ1小于30°度,所述第二角度θ2大于60°度;

所述预定值ω大于50°度。

5.一种多角度光学特征检测装置,其特征在于,包括:

两个光源(302a,302b)、透镜、接触式图像传感器CIS、识别单元;

所述透镜设置在预定区域反射光至CIS的光路上,用于所述预定区域反射光导入所述CIS传感器;

所述第一光源(302a)以第一角度θ1照射被检测物上预定区域,所述第二光源(302b)以第二角θ2照射被检测物上区域;所述预定区域反射光分别通过所述透镜入射到所述CIS传感器,分别得到所述预定区域的第一图像和第二图像,并输入到所述识别单元;其中第二角度θ2与第一角度θ1的差值大于预定值ω;

识别单元,用于对所述第一图像和第二图像进行处理,并比较所述第一图像与第二图像,以判断所述区域是否具有多角度光学特征,多角度光学特征包括变色油墨的变色特征、全息图像的图案变化特征。

6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,

所述两个光源设置在所述透镜的同一侧,所述透镜和CIS传感器倾斜于被检测物平面设置。

7.如权利要求5或6所述的装置,其特征在于,

所述第一角度θ1小于30°度,所述第二角度θ2大于60°度;

所述预定值ω大于50°度。

8.一种多角度光学特征检测装置,其特征在于,包括一个光源、两个透镜、两个CIS传感器;其中,

所述光源,用于照射被检测物上预定区域;

第一CIS传感器,以第一倾斜角设置,接收所述预定区域反射光,得到所述预定区域的第一图像;

第二CIS传感器,以第二倾斜角设置,接收所述预定区域反射光,得到所述预定区域的第二图像;

所述两个透镜分别设置在所述预定区域反射光至所述第一CIS传感器和第二CIS传感器的光路上,用于供所述预定区域反射光导入相应的CIS传感器。

其中第二倾斜角与第一倾斜角的差值大于预定值ω;

识别单元,用于对所述第一图像和第二图像进行处理,并比较所述第一图像与第二图像,以判断所述区域是否具有多角度光学特征,多角度光学特征包括变色油墨的变色特征、全息图像的图案变化特征。

9.如权利要求8所述的装置,其特征在于,

所述第一角度θ1小于30°度,所述第二角度θ2大于60°度;

所述预定值ω大于50°度。

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