[发明专利]一种存储器的自检测电路和方法

权利要求书

1.一种存储器的自检测电路，其包括数据生成器、数据比较器、地址生成器、地址选择器、寄存器组、控制信号发生器以及测试接口，其特征在于：

所述寄存器组中存有测试方式、地址范围、地址生成方式以及数据生成方式，所述控制信号发生器将生成的控制信号发送给所述数据生成器和地址生成器，所述数据生成器按照所述数据生成方式生成测试数据并将所述测试数据发送给所述数据比较器和测试接口，所述测试接口将所述测试数据存入存储器中，所述地址生成器根据所述地址范围和地址方式生成测试地址并将所述测试地址发送给所述地址选择器，所述地址选择器根据所述测试地址和所述存储器中的地址进行匹配，所述测试接口根据所述寄存器组中的测试方式以及测试地址从所述存储器中读取数据，所述数据比较器比较所述测试数据和从测试接口读取的数据。

2.根据权利要求1所述的存储器的自检测电路，其特征在于：所述寄存器组中的测试方式包括数据测试和连接测试。

3.根据权利要求2所述的存储器的自检测电路，其特征在于：当测试方式为连接测试时，所述数据生成器均生成固定的测试数据，所述地址生成器在不同比较次数中按照一位热码方式或多位热码方式生成不同的测试地址以进行测试；或所述地址生成器均生成固定的测试地址，然后数据生成器在不同比较次数中按照一位热码方式或多位热码方式生成不同的数据以进行测试；或地址生成器和数据生成器在不同比较次数中分别按照多位热码方式生成不同的测试地址和测试数据以进行测试。

4.根据权利要求1所述的存储器的自检测电路，其特征在于：所述寄存器组中的地址范围根据所述存储器中的行数、列数和页数进行配置，或根据存储器中的部分行、部分列和部分页进行配置。

5.根据权利要求1所述的存储器的自检测电路，其特征在于：所述数据生成器生成的数据和所述地址生成器生成的测试地址一一映射。

6.一种存储器的自检测方法，其特征在于，其包括：

配置测试方式、地址范围、地址生成方式以及数据生成方式；

根据配置的测试方式、地址范围、地址生成方式以及数据生成方式生成一一对应的测试数据和测试地址，将测试数据发送给所述存储器中，将测试地址与存储器进行行列匹配；

比较具有相同地址的测试数据和存储器中读取的数据。

7.根据权利要求6所述的存储器的自检测方法，其特征在于：所述测试方式包括连接测试和数据测试。

8.根据权利要求6所述的存储器的自检测方法，其特征在于：当测试方式为连接测试时，均生成固定的测试数据，在不同比较次数中按照一位热码方式或多位热码方式生成不同的测试地址；或均生成固定的测试地址，在不同比较次数中按照一位热码方式或多位热码方式生成不同的测试数据。

9.根据权利要求6所述的存储器的自检测方法，其特征在于：当测试方式为连接测试时，在不同比较次数中按照多位热码方式分别生成不同的测试数据和测试地址。

10.根据权利要求6所述的存储器的自检测方法，其特征在于：根据所述存储器中数据的行数、列数和页数进行所述地址范围的配置，或根据所述存储器中数据的部分行、部分列和部分页进行所述地址范围的配置。