[发明专利]测量超导线圈失超传播速度的装置及其测量方法有效
申请号: | 201010540138.2 | 申请日: | 2010-11-10 |
公开(公告)号: | CN102023268A | 公开(公告)日: | 2011-04-20 |
发明(设计)人: | 胡新宁;王秋良;李毅;崔春艳;戴银明;李兰凯 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电工研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 关玲 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 超导 线圈 传播速度 装置 及其 测量方法 | ||
1.一种测量超导线圈失超传播速度的装置,其特征在于所述的装置包括杜瓦容器(1)、制冷机(2)、环氧拉杆(3)、背场超导磁体(4)、被测超导线圈(5)、导冷带(6)、低温容器(8)、输液管(11)和回气管(12);在杜瓦容器(1)内安装有背场超导磁体(4),背场超导磁体(4)通过导冷带(6)由制冷机(2)的一级冷头传导制冷,杜瓦容器(1)的上端面中心位置安装制冷机(2),背场超导磁体(4)顶部通过环氧拉杆(3)与杜瓦容器(1)的上端面连接;低温容器(8)连接在制冷机(2)二级冷头的下端;被测超导线圈(5)安装在低温容器(8)内部;输液管(11)和回气管(12)在低温容器(8)上端对称布置,与低温容器(8)上盖板连接。低温容器(8)的上盖板上接有被测超导线圈电流引线(13)和被测超导线圈测量引线(14)。
2.按照权利要求1所述的测量超导线圈失超传播速度的装置,其特征在于所述的被测超导线圈(5)包括被测超导线圈疏绕部分(15)和被测超导线圈密绕部分(16),在被测超导线圈疏绕部分(15)和被测超导线圈密绕部分(16)之间的导线上缠绕加热丝(10)。
3.按照权利要求2所述的测量超导线圈失超传播速度的装置,其特征在于所述的加热丝(10)为锰铜丝,加热丝(10)的电阻为10-50欧姆。
4.按照权利要求1所述的测量超导线圈失超传播速度的装置,其特征在于所述被测超导线圈(5)的外表涂有厚度为5-10mm低温环氧胶(9)。
5.按照权利要求1所述的测量超导线圈失超传播速度的装置,其特征在于,所述的被测超导线圈(5)的直径大于被测超导线圈(5)的导线直径的40-60倍。
6.按照权利要求1所述的测量超导线圈失超传播速度的装置,其特征在于,当被测超导线圈(5)工作时处在真空环境中,通过制冷机(2)二级冷头直接制冷,使低温容器(8)内达到所需要的低温;当被测超导线圈(5)工作时浸泡在低温液体环境中,通过输液管(11)向低温容器(8)内输入低温液体;若被测超导线圈(5)为高温超导线圈则向低温容器(8)内输入液氮,如果被测超导线圈(5)为低温超导线圈则向低温容器(8)内输入液氦,液体蒸汽通过回气管(12)排出。
7.按照权利要求1所述的测量超导线圈失超传播速度的装置,其特征在于,在被测超导线圈疏绕部分(15)的导线上焊接有一对疏绕部分测量引线一(17)和一对疏绕部分测量引线二(18);在被测超导线圈密绕部分(16)的导线上焊接有一对密绕部分测量引线一(19)和一对密绕部分测量引线二(20);疏绕部分测量引线一(17)和疏绕部分测量引线二(18)沿导线方向的间距为L1,每对疏绕部分测量引线的两个引线沿导线方向上的距离均为L2;密绕部分测量引线一(19)和密绕部分测量引线二(20)沿导线方向上的间距为S;每对疏绕部分测量引线的两个引线沿导线方向上的距离均为d;被测超导线圈的导线直径或宽度为d。
8.按照权利要求1所述的测量超导线圈失超传播速度的方法,其特征在于,测量方法的步骤顺序为:
①首先在背景磁场下给被测超导线圈(5)通电,电流大小等于0.8~0.95倍超导线材或带材的临界电流值;
②给加热丝(10)通脉冲电流,当产生一定热量后触发被测超导线圈(5)失超;
③通过多通道数据采集仪(22)进行电压测量,记录下疏绕部分测量引线一(17)和疏绕部分测量引线二(18)分别产生的0.5倍最大电压的时间,将两个时间差记t1;另外记录下密绕部分测量引线一(19)和密绕部分测量引线二(20)分别产生的0.5倍最大电压的时间,将两个时间差记为t2;
④通过疏绕部分测量引线一(17)和疏绕部分测量引线二(18)测量得到沿导线方向上的被测超导线圈(5)的失超传播速度为(L1+L2)/t1,通过密绕部分测量引线一(19)和密绕部分测量引线二(20)测量得到沿导线径向方向上的被测超导线圈(5)的失超传播速度为(2d+S)/t2。
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