[发明专利]微波绕射系统

权利要求书

1.一种微波绕射系统，其特征在于，包含：

二个平板，其具有导电性，相对且平行设置，以构成一平面波导；

一晶格模型，其包含多个规则排列的圆柱，且该圆柱设置于该二个平板之间；

一发射器，其设置于该平面波导的外缘，用以朝该晶格模型提供一微波；以及

一检测器，其设置于该平面波导的外缘，用以检测该晶格模型所反射的该微波。

2.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，该微波的电场方向垂直于该平板。

3.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，该微波为一TEM模式波。

4.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，该圆柱的半径小于等于λ/2π，其中λ为该微波的波长。

5.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，该圆柱的间距范围为λ/2至3λ，其中λ为该微波的波长。

6.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，该晶格模型所反射的该微波的振幅满足下列方程式：

NλπD|f|≤0.3]]>

其中，N为该圆柱的数量，D为该晶格模型的宽度，λ为该微波的波长，f为散射系数。

7.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，该圆柱的数量范围为20个至200个。

8.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，该晶格模型的宽度范围为6λ至10λ，其中λ为该微波的波长。

9.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，该圆柱为介电材质。

10.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，该圆柱为金属材质。

11.根据权利要求10所述的微波绕射系统，其特征在于，该圆柱的高度小于该二个平板间的距离。

12.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，该检测器与该晶格模型间的距离等于D²/2λ，其中D为该晶格模型的宽度，λ为该微波的波长。

13.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，该发射器包含一第一模式转换器，其设置于该二个平板之间且其一端与该发射器连接，该第一模式转换器的连接端内径小于其开放端内径。

14.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，该检测器包含一第二模式转换器，其设置于该二个平板之间且其一端与该检测器连接，该第二模式转换器的连接端内径小于其开放端内径。

15.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，还包含：

一旋转座，其与该检测器连接，使该检测器以该晶格模型为中心轴旋转。

16.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，还包含：

一承座，其用以承载该晶格模型，且至少一该平板具有一开孔，该晶格模型的该圆柱通过该开孔突伸于该平面波导。

17.根据权利要求16所述的微波绕射系统，其特征在于，该发射器与具有该开孔的该平板连接，且该承座可相对于具有该开孔的该平板旋转。

18.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，该微波的频率为30GHz～100GHz。

19.根据权利要求1所述的微波绕射系统，其特征在于，该微波的频率为94GHz。