[发明专利]光电传感器

说明书

技术领域

本发明涉及用于检测物体的光电传感器，尤其涉及适用于检测薄型物体的用途的光电传感器。

背景技术

在用于基板的传送生产线等中检测薄型物体的较厚部分的用途的光电传感器中，由于因检测对象物而难以产生完全的遮光状态，因而以受光量低于某个一定阈值作为条件，将检测信号设定为接通。

作为针对这种传感器的配置的以往例子，如图10所示，有如下的构成：以夹着检测对象区域对置的方式配置透射型光电传感器的投光器501以及受光器502，检测从投光器1朝向受光器2射出的光的一部分被基板503遮断时的受光量的减少(例如专利文献1)。并且，如图11所示，有如下的构成：使上下方向的位置偏离地配置投光器501和受光器502，从投光器照射向检测对象区域倾斜地横穿的光(例如专利文献2)。

并且，专利文献1、2用于在传送路径的预定位置检测沿着水平方向传送的基板，有时为了检测薄型物体的上下移动目的而要使用光电传感器。例如专利文献3中记载了如下内容：使多张晶片沿上下方向排列地被收容的载体上下移动，从而使各晶片依次进入透射型的光电传感器的光程并进行检测；为了防止从相比检测对象更上段的晶片反射的光入射到受光器的目的，在受光器安装偏振滤光器。

专利文献1：日本特开2009-216489号公报

专利文献2：日本特开2007-258386号公报

专利文献3：日本特开平6-69323号公报

在图10的例子中，由于通过基板503的厚度决定遮光量，因而如基板503变薄，则难以进行稳定的检测。另外，根据该传感器的配置，如图12所示，有时从投光器501射出的光在基板503的面反射并向受光器502入射，由此阻碍基板503的检测。

如图11的例子一样，在沿倾斜方向设定光的光程的情况下，由于可能产生基于基板503的面的遮光状态，因而考虑能增加遮光量，能进行稳定的检测。但是，在该配置中，由于投光器501和受光器502的高度不同，因而基板503与光程的位置对准变困难。另外，为了稳定地检测水平姿态的基板503，需要如图中的区域500一样，生成在一定程度的高度范围具有仅能包含基板宽度的检测区域，但如光程倾斜，则在应作为检测区域的区域500内产生不能进行检测的区域u、v。

要想除去上述不能进行检测的区域u、v，在附近位置上，以与图示相反的位置关系配置另1组的投光器以及受光器，但构成这种结构的话，配线变复杂，成本变高。另外，在一方传感器的光程中产生的反射光入射到另一方传感器的受光器，从而可能降低检测精度。

发明内容

本发明着眼于上述各问题，其目的在于能稳定地检测薄型对象物。

本发明适用于如下的光电传感器：其包括向物体的检测对象区域射出光的投光器以及接收从投光器射出的光的受光器，响应于受光器所接收的光量向减少的方向变化，输出表示检测到物体的信号。该光电传感器除了构成为在投光器以及受光器分别收容有光源以及受光元件的结构的传感器以外，还能构成为光纤式光电传感器。另外，还能适用于透射型、反射型的任意类型。

在根据本发明的光电传感器的投光器中，特性不同且相互不发生干涉的2种光在将投光面的各自的射出区域分为两部分来射出。另外，根据本发明的光电传感器包括将上述2种光分别选择而导向受光器的一对光学滤光器。各光学滤光器分别隔着检测对象区域而配置于与不同于选择对象的光的光的射出区域对置的位置上。并且将2种光的射出方向确定为：相对于投光面，将各光学滤光器隔着一定的距离以上来进行配置时，使来自投光器的上述2种光分别照射到与其特性对应的光学滤光器的整个表面。

根据上述结构，在各光学滤光器针对投光面隔着一定的距离以上而进行配置的情况下，从投光器射出的2种光处于如下的状态：分别在检测对象区域内前进，并照射到与各自的特性对应的光学滤光器的整个表面，它们经由光学滤光器入射到受光器。入射到该受光器的光所前进的范围发挥物体的检测区域的功能。

基于2种光的检测区域处于分别倾斜地横穿检测对象区域且在检测对象区域内交叉的状态。另外，由于各检测区域具有分别对应的光的射出区域、与光学滤光器对应的宽度，并在从投光面的各射出区域的边界部位置至各光学滤光器的边界部位置为止的范围交叉，因而能使检测区域分布在以交叉部分为中心的较宽范围。

另外，由于在与投光器的各光的射出区域对置的位置上配置有与不同于从该区域射出的光的特性的光对应的光学滤光器，因而即使在物体的表面反射了的光导向受光器一方，也能防止其反射光入射到受光器。